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对于合格与否的计数值，若能采集到计量型数据，要优先考虑运用计量型控制图 对于计量型数据，若可以运用合格与否的计数值，要优先考虑运用计数型控制图 对于计量型数据，若可以采集到子组数据，应要尽量用合理子组原则采集数据 对于计量型数据，当过程质量较均匀时，可以用单值图代替均值图 子组数据n＞10时，选用
图
单值控制图 平均值与极值控制图 平均值与标准差控制图 中位值与极值控制图 个别值与移动极差控制图
均值-极差控制图 不合格品率控制图 中位数-极差控制图 不合格数控制图
均值-极差控制图 p控制图 单值-移动极差控制图 “均值-极差控制图”或“单值-移动极差控制图”
按统计量分类的控制图 管理用控制图 分析用控制图 均值控制图 极差控制图
按统计量分类的控制图 管理用控制图 分析用控制图 均值控制图 极差控制图
变异来源不仅包含随机误差。此时，必须等待清除组间变异变大的情况后，才能使用SPC 其实只要将每小时芯片镀膜厚度之均值求出，对48个数据绘制单值一移动极差（I-MR）控制图即可 求出各小时芯片镀膜厚度之均值，对之绘制单值一移动极差（X-MR）控制图外,再绘制各小时的极差（R）控制图，三张控制图同时使用即可控制过程 解决此类问题的最好方法是使用EWMA控制图
均值-标准差图更适用于抽样困难，检验成本大的场合 标准差图更准确地反映过程波动的变化 当子组大小大于10时不适于使用标准差控制图 均值图分析过程中心的波动较单值图更灵敏 均值-极差图的子组大小应大于均值-标准差图的子组大小
Xbar-R图子组连续数据 Xbar-S图子组连续数据 I-MR图（单值移动极差控制图）单件连续数据 P图或NP图计件离散数据C图u图计点离散数据
对于同样的样本数据，选择不同类型的控制图，得到的控制限也不同 控制用控制图的控制限一旦确定，就不能变更 收集的样本子组数越多，计算得到的控制限估计得越准确 分析用控制图的控制限与图上样本点的数值无关 控制用控制图的控制限是由分析用控制图的控制限转化而来的
Cp=0.83 CpK=0.67 =0.0016 K=0.1
均值—标准差图主要用于观察指数分布 均值—标准差图主要用于观察正态分布 当子组大小大于10时不适于使用标准差控制图 均值—极差图的子组大小应大于均值—标准差图的子组大小 应用电脑，均值计算已不成问题
平均值和极差控制图 累积和（CUSUM）控制图 指数加权滑动平均（EWM控制图 单值和移动极差控制图
平均值-极差控制图 中位数-极差控制图 单值移动-极差控制图 平均值-标准差控制图
做实验设计 调整控制图，反映新的平均值 寻找非随机原因 这是7点法则，可以忽略
平均值-极差控制图 中位数-极差控制图 缺陷数控制图 不合格品率控制图 单值-移动极差控制图
均值图上的描点值为8.1 标准差图上的描点值为0.1 样本均值在均值图的控制限内 样本标准差在标准差图的控制限内
均值-极差控制图 不合格数控制图 不合格品率控制图 中位数-极差控制图
Cp=0.83 CpK=0.67 =0.0016 K=0.1
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