你可能感兴趣的试题
仪器及探头性能 耦合与衰减 工件 缺陷状态 探头的价格
频率 衰减器精度和垂直线性 晶片尺寸 探头K值 探头M值
有利于发现缺陷 不利于对缺陷定位 可提高探伤灵敏度 有利于对缺陷定位
影响缺陷的定量 影响缺陷的定位 影响缺陷的定量 、 定位 检测结果评级的影响
提高探头声束指向性 校准仪器扫描线性 提高探头前沿长度和 K值测定精度 以上都对
宜选用检测频率 5MHz 采用透声性好粘度大的耦合剂 使用晶片尺寸小的探头 以上都对
仪器和探头对定量精度的影响 耦合对定量精度的影响 工件对定量精度的影响 缺陷对定量精度的影响 耦合对定量精度的影响
仪器对定位精度的影响 探头对定位精度的影响 工件对定位精度的影响 操作人员对定位精度的影响 缺陷对定位精度的影响
直探头反射式 双K1探头“V”形穿透 斜探头 小晶片探头 探头
提高探头声束指向性 校准仪器扫描线性 提高探头前沿长度和K值测定精度 以上都对
对小缺陷的检出能力 对缺陷的定位精度 相邻缺陷的分辨能力 对表面缺陷的检测能力