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检测小型工件时, 为了提高缺陷定位定量精度宜选用小晶片探头。 ( )

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仪器及探头性能  耦合与衰减  工件  缺陷状态  探头的价格  
频率  衰减器精度和垂直线性  晶片尺寸  探头K值  探头M值  
有利于发现缺陷  不利于对缺陷定位  可提高探伤灵敏度  有利于对缺陷定位  
探伤灵敏度  扫查密度  定位精度  定量精度  
仪器调节  工件材质  探头测试  定位方法  晶片材质  
影响缺陷的定量  影响缺陷的定位  影响缺陷的定量 、 定位  检测结果评级的影响  
仪器因素  探头因素  工件因素  缺陷因素  
提高探头声束指向性  校准仪器扫描线性  提高探头前沿长度和 K值测定精度  以上都对  
宜选用检测频率 5MHz  采用透声性好粘度大的耦合剂  使用晶片尺寸小的探头  以上都对  
仪器和探头对定量精度的影响  耦合对定量精度的影响  工件对定量精度的影响  缺陷对定量精度的影响  耦合对定量精度的影响  
仪器对定位精度的影响  探头对定位精度的影响  工件对定位精度的影响  操作人员对定位精度的影响  缺陷对定位精度的影响  
直探头反射式  双K1探头“V”形穿透  斜探头  小晶片探头  探头  
提高探头声束指向性  校准仪器扫描线性  提高探头前沿长度和K值测定精度  以上都对  
对小缺陷的检出能力  对缺陷的定位精度  相邻缺陷的分辨能力  对表面缺陷的检测能力  

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