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仪器及探头性能 耦合与衰减 工件 缺陷状态 探头的价格
检验仪器和探头的组合性能 确定灵敏度 缺陷定位 缺陷定量 以上都是
频率的影响 衰减器精度 晶片尺寸的影响 探头K值的影响 垂直线形的影响
波束方向偏离标称值 缺陷测距读取不准 探头指向性与缺陷取向影响 仪器性能不良
检验仪器和探头的组合性能 确定灵敏度 缺陷定位 缺陷定量 以上都是
提高探头声束指向性 校准仪器扫描线性 提高探头前沿长度和 K值测定精度 以上都对
仪器和探头对定量精度的影响 耦合对定量精度的影响 工件对定量精度的影响 缺陷对定量精度的影响 耦合对定量精度的影响
仪器对定位精度的影响 探头对定位精度的影响 工件对定位精度的影响 操作人员对定位精度的影响 缺陷对定位精度的影响
仪器及探头性能的影响 耦合与衰减的影响 工件几何形状和尺寸的影响 缺陷的影响 工件的大小
检验仪器和探头的组合性能 确定灵敏度 缺陷定量 缺陷定位
提高探头声束指向性 校准仪器扫描线性 提高探头前沿长度和K值测定精度 以上都对
检验仪器和探头的组合性能 确定灵敏度、缺陷定位 缺陷定量 估计最大穿透能力
检验仪器和探头的组合性能; 确定灵敏度; 缺陷定位评定; 缺陷定量评定; 以上都是