造成卷折伪影主要是因为（）。

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视场的范围超出被检物体被检物体超出视场的范围 TR过大 TE过大扫描时间过长

视场的范围超出被检物体被检物体超出视场的范围 TR过大 TE过大扫描时间过长

卷褶伪影是由于FOV过大造成的卷褶伪影在2D采集中经常出现，在3D采集中不会出现卷褶伪影出现在频率编码方向卷褶伪影出现在相位编码方向卷褶伪影既可以出现在相位编码方向上，也可以出现在频率编码方向上

视场的范围超出被检查的解剖部位被检查的解剖部位超出视场的范围 TR过大 TE过大扫描时间过长

雪花噪声运动性伪影卷折伪影容积效应金属伪影

化学位移伪影卷褶伪影截断伪影部分容积效应层间干忧

卷褶伪影是由于FOV小于受检部位所致卷褶伪影主要发生在频率编码方向上变换频率编码和相位编码方向可消除卷褶伪影施加空间预饱和带可抑制卷褶伪影增大FOV可增加卷褶伪影出现的频率

视场的范围超出被检查的揭破部位。被检查的揭破部位超出视场的范围。 TR过大。 TE过大。扫描时间过长。

视场的范围超出被检查的揭破部位。被检查的揭破部位超出视场的范围。 TR过大。 TE过大。扫描时间过长。

运动伪影磁敏感伪影截断伪影卷褶伪影化学位移伪影

塑料导管引起内部混响伪像注入微气泡引起多次反射伪像塑料导管密度较高，超声穿透力差折射伪像或侧边声影伪像声衰减伪像

运动伪影磁敏感伪影截断伪影卷褶伪影化学位移伪影