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近表面下的缺陷用哪种方探测最好()

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外部缺陷  内部缺陷  表面缺陷  近表面缺陷  
外部缺陷  内部缺陷  表面缺陷  近表面缺陷  
表面  近表面  内部  表面和近表面  
探测近表面缺陷  精确测定缺陷长度  精确测定缺陷高度  用于表面缺陷检测  
探测近表面缺陷  精确测定缺陷长度  精确测定缺陷高度  用于表面缺陷探伤  
探测近表面缺陷  精确测定缺陷长度  精确测定缺陷高度  用于表面缺陷探伤  
后乳化渗透法  着色渗透法  可水洗型荧光渗透法  以上方法均不能探测近表面的缺陷  
用TR探头  使用窄脉冲宽频带探头  提高探头频率,减小晶片尺寸  以上都是  
表面  近表面  表面和近表面  内部  
表面及近表面缺陷  内部缺陷  贯穿性缺陷  体积缺陷  
后乳化渗透法  着色渗透法  可水洗型荧光渗透法  以上方法均不能探测近表面的缺陷  
表面及近表面缺陷  内部缺陷  贯穿性缺陷  体积缺陷  

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