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基线法如何确定核伤校对灵敏度?校对时为什么要采取“近高远低”进行修正?

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直移和斜移校对法  轨颚和轨侧面校对法  直探头校对法  通用仪器校对法  远近观察法  
灵敏度要高,检出限却低  灵敏度要高,检出限也低  灵敏度要低,检出限却高  灵敏度要低,检出限也低  
四点定位法  时基线法  延伸度法  波高法  
偏角校对  下颚校对  侧面校对  0°探头校对  37°探头校对  
灵敏度要高,检出限却低  灵敏度要高,检出限也高  灵敏度要低,检出限却高  灵敏度要低,检出限也低  
灵敏度的修正  回波的识别  探头移动方向的选择  不用注意  只看探头  
对于水平裂纹和部分斜裂纹,采用反射式探伤方式,灵敏度应调整高一些  对于纵向裂纹采用穿透式探伤方式,灵敏度应调低一些  在CSK-1A试块B面上进行校对  在确定探伤灵敏度时应兼顾两种探伤方式的需要。在实际探伤中,一般使轨底波高达到80%时再释放6~10dB即可  在CSK-1A试块A面上进行校对  
灵敏度要高, 检出限却低  灵敏度要高, 检出限也低  灵敏度要低, 检出限却高  灵敏度要低, 检出限也低  

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