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直径300mm的圆柱试件,探头在外圆作周向扫查,发现深度100mm的缺陷,用测长法测定时,探头的周向移动距离是80mm(弧长),则该缺陷的延伸度是()。

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150×150×150mm立方体  100×100×100mm立方体  Φ150×300mm圆柱体  150×150×300mm棱柱体  
150×150×150mm立方体  150×150×300mm棱柱体  Φ150×300mm圆柱体  150×150×600mm立方体  
150×150×150mm立方体  100×100×100mm立方体  150×150×300mm棱柱体  Φ150×300mm圆柱体  
轨底扫查时长度应大于2TK+50mm,轨头扫查长度应大于TK+50mm(T:探测工件厚度;K:探头K值)  探头作锯齿形扫查,相邻的轨迹横向覆盖  轨头两侧及轨底边用5°~10°夹角扫查  探测轨底三角区时,应用向内20°~30°夹角进行扫查,以扩大探测范围  
直径150mm,高300mm的圆柱体  直径150mm,高150mm的圆柱体  边长为150mm的立方体  边长为300mm的立方体  
300mm×300mm×50mm  300mm×300mm×500mm  300mm×300mm×300mm  300mm×300mm×30mm  
使用脉冲反射式进行手工接触法扫查,要求的最小扫查范围取决于锻件的类型  进行格栅扫查应使用一个或多个探头顺着规定的格栅线往复移动  100%扫查覆盖,相邻探头移动覆盖区至少为有效探头直径的10%  手工扫查速度不超过150mm/s  
150×150×150mm立方体  150×150×300mm棱柱体  100×100×100mm立方体  Φ150×300mm圆柱体  
100×100×300mm棱柱体  150×150×150mm立方体  Φ100×300mm圆柱体  800×600×100mm薄板体  
直径300mm,高150mm的圆柱体  边长为150mm的立方体  直径150mm,高300mm的圆柱体  边长为300mm的立方体  
偏斜某个角度  左右摆动探头  多探头  水侵法  单探头  
直探头作径向扫查  斜探头作周向扫查  直探头作轴向扫查  以上都不对  
150×150×150mm立方体  150×150×300mm棱柱体  Φ150×300mm圆柱体  150×150×550mm立方体  
直径150mm,高300mm的圆柱体  直径150mm,高150mm的圆柱体  边长为150mm的立方体  边长为300mm的立方体  

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