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双晶探头只能用于探测工件表面缺陷。( )

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探测近表面缺陷  精确测定缺陷长度  精确测定缺陷高度  用于表面缺陷检测  
平行于探测面的缺陷  与探测面倾斜的缺陷  垂直于探测面的缺陷  不能用斜探头检测的缺陷  
可探测内部缺陷  只能探测表面缺陷  只能探测金属工件  可探测金属.非金属工件  
近表面  表面  内部  平面形  
平行于探测面的缺陷  与探测面倾斜的缺陷  垂直于探测面的缺陷  不能用斜探头检测的缺陷  
平面  侧边  内部  近表面  
内部  远表面  近表面或表面  平面形  
杂波少、盲区小  易于探测垂直平行声束缺陷  近场长度小  有利于检测近表面缺陷  
近表面  表面  内部  平面形  
探测近表面缺陷  精确测定缺陷长度  精确测定缺陷高度  精确测定缺陷形状  

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