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连续3次质控样测定结果均在平均值控制图的上控制线外,应如何评价测定结果()

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根据20次或更多独立批次获得的质控测定的结果算出的平均值  根据至少20次质控测定的结果算出的平均值  以最初20个数据和3-5月在控数据汇集的所有数据的累积平均数  以3-5个月在控数据汇集的所有数据的累积平均数  根据10次获得的质控测定的结果算出的平均值  
平均数一卡方控制图  单值控制图  Z-分数图  平均值一极差(-R)控制图  百分数变异  
极差控制图  Z-分数图  均值控制图  标准差控制图  Levey-Jennings控制图  
以均数为控制基线  均数+_2s为警告线  均数+_3s为控制线  均数+_1.5S为警告线  +_3.5S为控制线  
平均数-卡方控制图  单值控制图  Z-分数图  平均值-极差(-R)控制图  百分数变异  
Z-分数图  平均值-极差控制图  Levey-Jenning质控图  平均值-s控制图  Shewhart图  
既用于考察测定的准确度,又可用于考察测定的精密度  只用于考察测定的精密度  只用于考察测定的准确度  不能考察测定的准确度  不能考察测定的精密度  
根据20次或更多独立批次获得的质控测定的结果算出的平均值  根据至少20次质控测定的结果算出的平均值  以最初20个数据和3-5月在控数据汇集的所有数据的累积平均数  以3-5个月在控数据汇集的所有数据的累积平均数  根据10次获得的质控测定的结果算出的平均值  
一次或一人测定结果  两次或一人测定结果平均值  一次或数人测定结果平均值  多次或数人测定结果的平均值  
以均数为控制基线  均数±2s为警告线  均数±3s为控制线  均数±1.5S为警告线  ±3.5S为控制线  
均值控制图  极差控制图  Z-分数图  标准差控制图  Levey-Jennings控制图  
根据20次或更多独立批次获得的质控测定的结果算出的平均值  根据至少50次质控测定的结果算出的平均值  以最初20个数据和3~5个月在控数据汇集的所有数据的累积平均数  以3~5个月在控数据汇集的所有数据的累积平均数  根据10次获得的质控测定的结果算出的平均值  
既用于考察测定的准确度,又可用于考察测定的精密度  只用于考察测定的精密度  只用于考察测定的准确度  不能考察测定的准确度  不能考察测定的精密度  
根据20次或更多独立批次获得的质控测定的结果算出的平均值  根据至少50次质控测定的结果算出的平均值  以最初20个数据和3~5个月在控数据汇集的所有数据的累积平均数  以3~5个月在控数据汇集的所有数据的累积平均数  根据10次获得的质控测定的结果算出的平均值  

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