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如图为速度选择器示意图,P1、P2为其两个极板.某带电粒子以速度v0从S1射入,恰能沿虚线从S2射出.不计粒子重力,下列说法正确的是(  )

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质谱仪是分析同位素的重要工具  速度选择器中的磁场方向垂直纸面向内  能通过狭缝P.的带电粒子的速率等于  粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P.,粒子的比荷()越小  
1A.2.平板S.下方有强度为  0的匀强磁场.下列表述正确的是A.质谱仪是分析同位素的重要工具B.速度选择器中的磁场方向垂直纸面向内  能通过狭缝P.的带电粒子的速率等于  粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P.,粒子的比荷越小  
1A.2.平板S.下方有磁感应强度为  0的匀强磁场.下列表述正确的是 (   ) A.质谱仪是分析同位素的重要工具 B.速度选择器中的磁场方向垂直纸面向外   能通过狭缝P.的带电粒子的速率等于E./B.   粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P.,粒子的比荷越小  
质谱仪是测量带电粒子比荷的仪器   速度选择器中的磁场方向垂直纸面向里   能通过的狭缝P.的带电粒子的速率等于E./B   在B.E.和B0相同的条件下,粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P.,粒子的比荷越大   
1A.2.平板S.下方有强度为  0的匀强磁场.下列表述正确的是 A.质谱仪是分析同位素的重要工具 B.速度选择器中的磁场方向垂直纸面向里   能通过狭缝P.的带电粒子的速率等于   粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P ,粒子的荷质比越小   
质谱仪是分析同位素的重要工具   速度选择器中的磁场方向垂直纸面向外   能通过狭缝P.的带电粒子的速率等于B./E   粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P.,粒子的比荷越小   
质谱仪是分析同位素的重要工具   速度选择器中的磁场方向垂直纸面向里   能通过狭缝P.的带电粒子的速率等于B./E   粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P.,粒子的比荷越小   
1A.2。平板S.下方有强度为  0的匀强磁场。下列表述正确的是(    ) A.速度选择器中的磁场方向垂直纸面向里 B.能通过狭缝P.的带电粒子的速率等于 C.粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P.,粒子的比荷()越大   粒子所带电荷量相同时,打在胶片上的位置越靠近狭缝P.,表明其质量越大   
质谱仪是分析同位素的重要工具

  因为速度选择器本身并不选择电性,所以有由该质谱仪不能确定图示中带电粒子的正负

  在速度选择器中能沿直线通过狭缝P的带电粒子的速率等于

  粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P,粒子通过狭缝P的速度越小  

质谱仪是分析同位素的重要工具   速度选择器中的磁场方向垂直纸面向里   能通过的狭缝P.的带电粒子的速率等于E./B   粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P.,粒子的荷质比越小   
质谱仪是分析同位素的重要工具  速度选择器中的磁场方向垂直纸面向外  能通过狭缝P的带电粒子的速度等于E/B  粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P,粒子的荷质比越小  
1A.2.平板S.下方有磁感应强度为  0的匀强磁场.下列说法正确的是(    ) A.速度选择器中的磁场方向垂直纸面向里 B.能通过狭缝P.的带电粒子的速率等于B./E.   比荷(q/m)越大的粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P.   粒子从P.点运动到胶片A.1A.2的时间为2πm/qB0   
1A2。平板S.下方有强度为  0的匀强磁场。下列表述正确的是 A.质谱仪是分析同位素的重要工具 B.速度选择中的磁场方向垂直纸面向外   能通过狭缝P.的带电粒子的速率等于E./B   粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P.,粒子的荷质比越小   
1A.2.平板S.下方有强度为  0的匀强磁场.下列表述正确的是 (  ) A.质谱仪是分析同位素的重要工具 B.速度选择器中的磁场方向垂直纸面向外   能通过狭缝P.的带电粒子的速率等于E./B.   粒子打在胶片上的位置越靠近 狭缝P.,粒子的比荷越小   

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