如图为质谱仪的工作原理图，带电粒子被加速电场加速后先进入速度选择器（速度选择器内有相互正交的匀强磁场和匀强电场，其电场强度为E，磁感应强度为B），再穿过平板S上的狭缝P进入磁感应强度为B0的偏转磁场，...

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质谱仪是分析同位素的重要工具速度选择器中的磁场方向垂直纸面向内能通过狭缝P.的带电粒子的速率等于粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P.，粒子的比荷（）越小

₁A.₂.平板S.下方有强度为 ₀的匀强磁场.下列表述正确的是A.质谱仪是分析同位素的重要工具B.速度选择器中的磁场方向垂直纸面向内能通过狭缝P.的带电粒子的速率等于

粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P.，粒子的比荷越小

₁A.₂.平板S.下方有磁感应强度为 ₀的匀强磁场.下列表述正确的是 (　　)

A.质谱仪是分析同位素的重要工具 B.速度选择器中的磁场方向垂直纸面向外能通过狭缝P.的带电粒子的速率等于E./B. 粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P.，粒子的比荷越小

质谱仪是测量带电粒子比荷的仪器速度选择器中的磁场方向垂直纸面向里能通过的狭缝P.的带电粒子的速率等于E./B 在B.E.和B₀相同的条件下，粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P.，粒子的比荷越大

₁A.₂.平板S.下方有强度为 ₀的匀强磁场.下列表述正确的是 A.质谱仪是分析同位素的重要工具 B.速度选择器中的磁场方向垂直纸面向里能通过狭缝P.的带电粒子的速率等于粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P，粒子的荷质比越小

质谱仪是分析同位素的重要工具速度选择器中的磁场方向垂直纸面向外能通过狭缝P.的带电粒子的速率等于B./E 粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P.，粒子的比荷越小

质谱仪是分析同位素的重要工具速度选择器中的磁场方向垂直纸面向里能通过狭缝P.的带电粒子的速率等于B./E 粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P.，粒子的比荷越小

质谱仪是分析同位素的重要工具速度选择器中的磁场方向垂直纸面向外能通过狭缝P.的带电粒子的速率等于E./B 粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P.，粒子的荷质比越小

₁A.₂。平板S.下方有强度为 ₀的匀强磁场。下列表述正确的是（） A.速度选择器中的磁场方向垂直纸面向里 B.能通过狭缝P.的带电粒子的速率等于 C.粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P.，粒子的比荷（）越大粒子所带电荷量相同时，打在胶片上的位置越靠近狭缝P.，表明其质量越大

质谱仪是分析同位素的重要工具速度选择器中的磁场方向垂直纸面向里能通过的狭缝P.的带电粒子的速率等于E./B 粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P.，粒子的荷质比越小

质谱仪是分析同位素的重要工具速度选择器中的磁场方向垂直纸面向外能通过狭缝P的带电粒子的速度等于E/B 粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P，粒子的荷质比越小

₁A.₂.平板S.下方有磁感应强度为 ₀的匀强磁场.下列说法正确的是（　　） A.速度选择器中的磁场方向垂直纸面向里 B.能通过狭缝P.的带电粒子的速率等于B./E. 比荷（q/m）越大的粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P. 粒子从P.点运动到胶片A.₁A.₂的时间为2πm/qB₀

1A2。平板S.下方有强度为 0的匀强磁场。下列表述正确的是 A.质谱仪是分析同位素的重要工具 B.速度选择中的磁场方向垂直纸面向外能通过狭缝P.的带电粒子的速率等于E./B 粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P.，粒子的荷质比越小

₁A.₂.平板S.下方有强度为 ₀的匀强磁场.下列表述正确的是 (　　) A.质谱仪是分析同位素的重要工具 B.速度选择器中的磁场方向垂直纸面向外能通过狭缝P.的带电粒子的速率等于E./B. 粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P.，粒子的比荷越小

质谱仪是分析同位素的重要工具速度选择器中的磁场方向垂直纸面向里能通过狭缝P.的带电粒子的速率等于E./B 粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P.，粒子的荷质比越小

此粒子带负电下极板S₂比上极板S₁电势高若只增大加速电压U的值，则半径r变大若只增大入射粒子的质量，则半径r变大