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Ⅰ级分类试验 Ⅱ级分类试验 Ⅲ级分类试验 Ⅳ级分类试验
10/350μs，10kA 10/350μs，15kA 8/20μs，10kA 8/20μs，15kA
LPZ0A与LPZ0B区内的各种物体不可能遭到大于所选滚球半径对应的雷电流直接雷击； LPZ0A区内的电磁场强度没有衰减，LPZ0B区内的电磁场强度有衰减； LPZ0A与LPZ0B区之间无界面； LPZ0A与LPZ0B区之间有界面。
Ⅰ级分类试验 Ⅱ级分类试验 Ⅲ级分类试验 Ⅳ级分类试验
通信设备的机柜顶部 机房的电缆入口处 LPZ0区和LPZ1区的交界面或LPZ0区和LPZ2区的交界面 DDF架上
10/350μs，10kA 10/350μs，15kA 8/20μs，10kA 8/20μs，15kA
LPZ0区 LPZ0与LPZ1的交界处 LPZ1区 LPZ1与LPZ2的交界处
LPZ0与LPZ0区内的各种物体不可能遭到大于所选滚球半径对应的雷电流直接雷击； LPZ0区内的电磁场强度没有衰减，LPZ0区内的电磁场强度有衰减； LPZ0与LPZ0区之间无界面； LPZ0与LPZ0区之间有界面。
LPZ0A与LPZ0B区交界处 LPZ0B与LPZ1区交界处 LPZ1与LPZ2区交界处
LPZ0A区； LPZ0B区； LPZ1区； LPZ2区
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