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显影操作时, 不断搅动底片的目的是( )

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显影液活力降低  显影液搅动过度  显影时间过短  显影温度过高  
显影温度过高  显影时间过短  显影时搅动不足  显影液老化  
显影温度20±2℃,时间4-6min,预先水浸,显影过程中适当搅动;  定影温度16-24℃,时间5-15min,定影过程中要充分搅动;  干燥温度≤40℃,去除表面水滴后干燥;  以上都是。  
显影操作开始前, 胶片上沾染了显影液  显影操作开始前, 胶片上沾染了定影液  增感屏划伤  胶片跑光  
显影液活力降低;  显影液搅动过度;  显影时间过短;  显影温度过高。  
曝光时试件上的电焊飞溅  底片显影前被定影液溅污  底片被显影液溅污  底片被水溅污  
搅动可使照片的灰雾度加大  搅动能加快显影速度  搅动可避免影像反差降低  搅动可避免产生污染  搅动可避免显影不均  
显影过程中搅动不足  显影不均匀  定影不足  a和 b  
保护胶片,使其免受过大压力  使胶片表面的显影液更新  使胶片表面上未曝光的银粒子散开  防止产生网状皱纹  
保护胶片,使其免受过大压力  使胶片表面的显影液更新  使胶片表面上未曝光的银粒子散开  防止产生网状皱纹  
新鲜的显影液不断输送到胶片的表面  不断带走显影时所产生附在胶片表面上的溴化物及显影剂的氧化物  提高显影速度  以上都对  
底片在完全浸入显影液之前溅上了显影液滴  底片在完全浸入显影液之前溅上了定影液滴  底片在完全浸入显影液之前溅上了停显液滴  底片在完全浸入显影液之前溅上了水滴  
显影液活力降低  显影液搅动过度  显影时间过短  显影温度过高  
曝光时试件上的电焊溅渣  底片显影前被定影液溅污  底片被显影液溅污  底片被水溅污  
曝光时试件上的电焊溅渣  底片显影前被定影液溅污  底片被显影液溅污  底片被水溅污  
使未曝光的溴化银粒子脱落;  驱除附在底片表面的气孔,使显影均匀,加快显影;  使曝过光的溴化银加速溶解;  以上全是。  
显影温度 20 ±2℃, 时间 4~6min, 预先水浸, 显影过程中适当搅动  定影温度 16~24℃, 时间 5~15min, 定影过程中充分搅动  干燥温度≤40℃, 去除表面水滴后干燥  以上都是