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显影液活力降低 显影液搅动过度 显影时间过短 显影温度过高
显影温度过高 显影时间过短 显影时搅动不足 显影液老化
显影温度20±2℃,时间4-6min,预先水浸,显影过程中适当搅动; 定影温度16-24℃,时间5-15min,定影过程中要充分搅动; 干燥温度≤40℃,去除表面水滴后干燥; 以上都是。
显影操作开始前, 胶片上沾染了显影液 显影操作开始前, 胶片上沾染了定影液 增感屏划伤 胶片跑光
显影液活力降低; 显影液搅动过度; 显影时间过短; 显影温度过高。
曝光时试件上的电焊飞溅 底片显影前被定影液溅污 底片被显影液溅污 底片被水溅污
搅动可使照片的灰雾度加大 搅动能加快显影速度 搅动可避免影像反差降低 搅动可避免产生污染 搅动可避免显影不均
显影过程中搅动不足 显影不均匀 定影不足 a和 b
保护胶片,使其免受过大压力 使胶片表面的显影液更新 使胶片表面上未曝光的银粒子散开 防止产生网状皱纹
保护胶片,使其免受过大压力 使胶片表面的显影液更新 使胶片表面上未曝光的银粒子散开 防止产生网状皱纹
新鲜的显影液不断输送到胶片的表面 不断带走显影时所产生附在胶片表面上的溴化物及显影剂的氧化物 提高显影速度 以上都对
底片在完全浸入显影液之前溅上了显影液滴 底片在完全浸入显影液之前溅上了定影液滴 底片在完全浸入显影液之前溅上了停显液滴 底片在完全浸入显影液之前溅上了水滴
显影液活力降低 显影液搅动过度 显影时间过短 显影温度过高
曝光时试件上的电焊溅渣 底片显影前被定影液溅污 底片被显影液溅污 底片被水溅污
曝光时试件上的电焊溅渣 底片显影前被定影液溅污 底片被显影液溅污 底片被水溅污
使未曝光的溴化银粒子脱落; 驱除附在底片表面的气孔,使显影均匀,加快显影; 使曝过光的溴化银加速溶解; 以上全是。
显影温度 20 ±2℃, 时间 4~6min, 预先水浸, 显影过程中适当搅动 定影温度 16~24℃, 时间 5~15min, 定影过程中充分搅动 干燥温度≤40℃, 去除表面水滴后干燥 以上都是