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CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）

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IIW试块测定斜探头的入射点在探测任何声速的试件时其位置不变

如何在IIW试块上测试探头性能的双峰

与IIW试块相比CSK-IA试块的优点之一是可以测定斜探头分辨力

70°探头折射角测定应

在CSK-1A试块A面探测φ50圆弧在CSK-1A试块B面探测φ50圆弧在CSK-1A试块探测φ1.5横孔在半圆试块上测定

CSK-1A试块φ40φ44φ50台阶孔主要用来测试斜探头的

入射点折射角分辨率 K值

对于Φ83x14mm规格的钢管对接环焊缝探伤时采用的对比试块最好是

IIW2试块 IIW1试块实际工件试块任何平底孔试块都可以

0°探头分辨率的测定应使用

CSK-1A试块85、91台阶底面 CSK-1A试块φ40、44圆弧面 WGT-1试块 WGT-2试块

CSK-ⅠA试块上φ50φ44φ40三孔的台阶可用来测定斜探头的分辨力

CSK-1A试块ϕ40ϕ44ϕ50台阶孔主要用来测试斜探头的

入射折射分辨率 K值

CSK-1A试块∮40∮44∮50台阶孔主要用来测试斜探头的

分辨率反射入射折射

钢轨探伤管理规则规定探伤生产机构应配备标准试块如CS-1-5试块CSK-1A或IIW试块

超声波试块可以分为哪几种

IIW试块标准试块对比试块 A型试块

标准试块有试块等

CS-1-5 CSK-1A IIW GTR-5 GTR-6

IIW试块的主要用途是测试探伤仪和探头的性能

CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40Φ44Φ50台阶孔其目的是方便用于

测定斜探头折射角的正切（K 值）；测定直探头盲区范围；测定横波斜探头的分辨力；以上全是

利用IIW试块上Φ50mm孔与两侧面的距离仅能测定直探头盲区的大致范围

CSK-IB试块上Φ50和Φ44mm两孔的台阶可用来测定的

CSK-1A试块ϕ40ϕ44ϕ50台阶孔主要用来测试斜探头的分辨率

CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40φ44和φ50台阶孔其目的是

测定斜探头K值测定直探头盲区范围测定斜探头分辨率以上全部

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