将原来的显像剂去除后再施加一次显像剂原来的迹痕再次显示说明该缺陷的深度可能较大含有较多的渗透剂-X题卡

湿式显像法快干式显像法干式显像法无显像剂式显像法

为了显示细小裂纹，显像剂层应厚些多余的显像剂层应用压缩空气去除干显像剂比非水湿显像剂对比度好为了显示细小裂纹，薄显像剂层比厚显像剂层好

为了显示细小裂纹, 显像剂层做的厚些多余的显像剂层应用压缩空气去除黑显像剂比白显像剂对比度好为了显示细小裂纹, 薄显像剂层比厚显像剂层好

不连续性中含有很多渗透剂不连续性可能是疏松缺陷不连续性可能是气孔缺陷不连续性很可能是裂纹

擦去显像剂,重新显像再次渗透从预处理开始,做渗透检验的全过程擦去显像剂,做补充清洗后再施加显像剂

施加显像剂的操作时间施加显像剂到开始观察的时间从显像剂干燥到开始观察的时间施加显像剂到观察结束的时间

显像剂一般会发出荧光显像剂在检验时提供一个与显示相反衬的本底去除多余渗透液后，显像剂把保留在不连续性中的渗透液吸出来显像剂有干的也有湿的

不连续性中含有很多渗透剂不连续性可能是疏松缺陷不连续性可能是气孔缺陷不连续性很可能是裂纹

显像剂一般会发出很强的荧光显像剂在检验时提供一个与显示相反衬的背景去除多余渗透液后, 显像剂把保留在不连续性中的渗透液吸出来显像剂有干的也有湿的

为了显示细小裂纹显像剂做得厚些多余的显像剂层应用压缩空气去除黑显像剂比白显像剂对比度好为了显示细小裂纹，薄显像剂层比后显像剂层好

显像剂发出低亮度荧光显像剂在检测时提供一个显示相反的背景去除多余渗透液后，显像剂把保留在不连续性中的渗透液吸出显像剂有干的也有湿的

预清洗→施加渗透剂→去除多余的渗透剂→千燥→施加显像剂→观察及评定预清洗→去除多余的渗透剂→干燥→施加渗透剂→施加显像剂→观察及评定施加渗透剂→施加显像剂→观察及评定→去除多余的渗透剂→预清洗→干燥施加渗透剂→施加显像剂→去除多余的渗透剂→干燥→预清洗→观察及评定

施加显像剂的操作时间施加显像剂到开始观察的时间从显像剂干燥到开始观察的时间施加显像剂到观察结束的时间

为了显示细小裂纹，显像剂做得厚些多余的显像剂层应用压缩空气去除黑显像剂比白显像剂对比度好为了显示细小裂纹，薄显像剂层比厚显像剂层好

不连续性中含有很多渗透剂不连续性可能是疏松不连续性可能是气孔不连续性很可能是裂纹

为了显示细小裂纹，厚显像剂层比薄显像剂层好多余的显像剂应当用压缩空气去除湿显像剂比干粉显像剂的分辨率高为了显示细小裂纹，薄显像剂层比厚显像剂层好

显像剂一般会发出很强的荧光显像剂在检验时提供一个与显示相反衬的背景去除多余渗透液后，显像剂把保留在不连续性中的渗透液吸出来显像剂有干的也有湿的

将原来的显像剂去除后再施加一次显像剂,原来的迹痕再次显示,说明该缺陷的深度可能较大,含有较多的渗透剂()