下述哪些是描述成像系统噪声特性的 ( )

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X线量子波动探测器因素电子电路被照体结构胶片的结构

多方位成像特性横断面图像显示特性数据采集系统特性 X线的吸收衰减特性 X线透过被照体之后的直进性

描述噪声特性测量RMS需要显微密度计可以用于比较不同屏-片组合的噪声特性 RMS越大，系统噪声越小 RMS可以评价照片斑点

描述成像系统的分辨力特性理想的MTF为1.0 是空间频率的函数属于客观评价方法与观察者有关

描述噪声特性测量RMS需要显微密度计可以用于比较不同屏 -片组合的噪声特性 RMS越大，系统噪声越大以上都不对

多方位成像特性横断面图像显示特性 X线的吸收衰减特性数据采集系统(DAS)特性线透过被照体之后的直进性

描述成像系统的信噪比特性理想的MTF为1.0 是空间频率的函数属于客观评价方法 MTF不考虑相位移动

多方位成像特性横断面图像显示特性 X线的吸收衰减特性数据采集系统（DAS）特性 X线透过被照体之后的直进性

NEQ、DQE MTF RMS、WS ROC SNR

RMS WS OTF ACF NEQ

多方位成像特性横断面图像显示特性 X线的吸收衰减特性数据采集系统(DA特性 X线透过被照体之后的直进性

IHE MTF PAS DICOM LIS

RMS WS OTF ACF DQE

PSF LSP OTF LP／mm DQE

MRI噪声主要来源于磁场不均匀性 MRI噪声主要来源于成像体的热噪声 MRI噪声主要来源于线圈的电噪声 MRI噪声与共振频率有关 MRI噪声主要来源于线圈的电噪声及成像体的热噪声

多方位成像特性横断面图像显示特性 X线的吸收衰减特性数据采集系统(DAS)特性线透过被照体之后的直进性