直探头接触法探伤时发现缺陷回波较低且底面回波降低或消失的原因是与工件表面呈-X题卡

底面回波降低底面回波消失底面回波变宽底面回波变窄

耦合不良存在与声束不垂直的缺陷存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷以上都可能

与表面成较大角度的平面缺陷反射条件很差的密集缺陷 AB都对 AB都不对

耦合不良存在与声束不垂直的平面缺陷存住与始脉冲不能分开的近表面缺陷以上都是

耦合不良；缺陷面积大于声束截面；存在于声束不垂直的平面性缺陷；以上都是。

平行且靠近探测面与声束方向平行与探测面成较大角度平行且靠近底面

缺陷回波迟到回波底面回波侧面回波

耦合不良存在与声束不垂直的平面缺陷存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷以上都是

耦合不良存在与声束不垂直的平面缺陷存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷以上都是

探头与工件表面之间工件底面与空气之间仪器与探头之间以上都不对

平行且靠近探测面与声束方向平行与探测面成较大角度平行且靠近底面

与表面成较大角度的平面缺陷反射条件很差的密集缺陷 AB 都对 AB 都不对

底面回波降低或消失底面回波正常底面回波变宽底面回波变窄

1.5mm 2mm 2.5mm 3mm

底面回波降低或消失底面回波正常底面回波变宽底面回波变窄

缺陷回波迟到回波底面回波侧面回波

无底面回波或底面回波降低难以发现平行探测面的缺陷声波穿透能力下降缺陷回波受底面回波影响

底面回波降低或消失底面回波不降低底面回波变窄以上都不对

直探头接触法探伤时，发现缺陷回波较低，且底面回波降低或消失的原因是与工件表面呈（）。