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当缺陷尺寸小于射源尺寸时，才需要引入ζ 对底片对比度进行修正 ζ 值越小，几何条件对底片对比度的影响越大 为提高ζ 值而改变透照布置，常用的方法是增大焦距 为提高底片对比度，应尽量采用ζ >1 的透照布置
提高横向裂纹检出率； 减小几何不清晰度； 增大厚度宽容度； 提高底片对比度。
测量缺陷大小 测量底片黑度 测量几何不清晰度 衡量透照底片的影像质量
当缺陷尺寸小于射源尺寸时，才需要引入σ对底片对比度进行修正； σ值越小，几何条件对底片对比度的影响越大； 为提高σ而改变透照布置，常用的方法是增大焦距； 为提高底片对比度，应尽量采用σ>1的透照布置。
测量缺陷大小 测量底片黑度 测量几何不清晰度 衡量透照底片的影像质量
当缺陷尺寸小于射源尺寸时，才需要引入σ对底片对比度进行修正 σ值越小，几何条件对底片对比度的影响越大 为提高σ值而改变透照布置，常用的方法是增大焦距 为提高底片对比度，应尽量采用σ>1的透照布置
满足射线照相对几何不清晰度的要求 满足射线照相对固有不清晰度的要求 选取的焦距应给出射线强度比较均匀的适当大小的透照区 几何不清晰度的要求限定了焦距的最小值
小焦点、大焦距透照 小焦点、小焦距透照 选细微粒胶片 铅箔增感
提高横向裂纹检出率； 减小几何不清晰度； 增大厚度宽容度； 提高底片对比度。
射源的尺寸， 射源的强度， 胶片类型； 工件厚度， 胶片类型， 射源类型； 射源强度， 胶片类型， 增感屏类型； 射源尺寸， 几何不清晰度， 工件厚度。
小焦点、大焦距透照 小焦点、小焦距透照 选细微粒胶片 铅箔增感
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