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晶片厚度与其( )频率的乘积叫做频率常数。
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无损检测技术资格人员考试《无损检测超声波三级考试试题二》真题及答案
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已知PZT-4的频率常数是2000m/s2.5MHz的PZT-4晶片厚度约为
0.8mm
1.25mm
1.6mm
0.4mm
晶片厚度和探头频率是相关的晶片越厚则
频率越低
频率越高
无明显影响
用频率常数为2000米/秒晶片制作4MHz的直探头晶片厚度
0.8mm
0.5mm
1.25mm
以上都不对
知PZT-4的频率常数是2000m/s2.5MHz的PZT-4晶片厚度约为
0.8mm
12mm
16mm
4mm
压电晶片的振动频率主要取决于晶片厚度和超声波在晶片材料中的传播速 度
某压电晶体的频率常数Nt=2000KHz.mm欲制作中心频率5MHz的晶片其晶片厚度应为
0.2mm
0.4mm
0.8mm
W、1.6mm
晶片厚度和探头频率是相关的晶片越厚则
频率越低
频率越高
无明显影响
探头的频率和晶片厚度有关晶片厚度越薄频率越低
晶片厚度和探头频率是相关的晶片越厚则频率
超声波探头的压电晶片的振动频率与晶片厚度有什么关系
换能器频率与晶片厚度有关晶片越频率越材料对声能的衰减越
超声波探头的频率与压电晶片厚度有关晶片越薄则
频率越低;
频率越高;
频率不变;
以上都不对
某压电晶体的频率常数Nt=2000KHz.mm欲制作中心频率5MHz的晶片其晶 片厚度应为
0.2mm
0.4mm
0.8mm
1.6mm
2.5MHz探头所用的锆钛酸铅晶片厚度约为频率常数Nt=2100KHz.mm
1.5mm
0.05mm
0.8mm
2.5mm
晶片厚度越薄震动频率越反之晶片越厚震动频率越
高
低
大
短
长
计算题已知PZT-5锆酞酸铅的频率常数为Nt=2用PZT-5锆酞酸铅材料制作的探头晶片振动频率为2.
探头频率与晶片厚度有关晶片越薄
频率越低
频率越高
频率无显著变化
以上都不对
晶片厚度与晶片的频率密切相关晶片厚度越厚频率越低
探头的频率取决于
晶片的厚度
晶片材料的声速
晶片材料的声阻抗
晶片材料的密度
压电晶片的振动频率于晶片厚度有关
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探伤时采用较高的探测频率可有利于:
在远场同声程的横孔直径从2mm增大到8mm时其回波声压提高
为了在工件中得到纯横波对于斜探头的选择除了入射角以外还应考虑
某锻件采用对比试块法探伤验收标准为Φ1.2mm平底孔当量现发现埋藏深度33mm处 有一缺陷应采用下述哪种试块进行评定?:
声程大于3N时若声程相同则孔径增加一倍时横通孔的反射声压为原来的
声程大于3N时声程增加一倍平底孔的反射声压为原来的
调节探伤仪面板上的抑制旋钮会影响探伤仪的:
共振式超声波仪器主要采用
超声波通过两种材料的界面时如果第一介质的声阻抗比较大但声速与第二介质相同 则折射角
探头软保护膜和硬保护膜相比突出的优点是
超声波在介质中传播时任一点的声压和该点振动速度之比称为
在X≥3N的距离上当孔径相同时若声程相差一倍则横通孔回波高度差dB
一个2.25MHz在水中近场长度等于58.6mm的直探头其半扩散角度大约是
用一台时基线已正确校正的仪器去探测R1=50mmR2=25mm的牛角试块V2试块 使斜探头对正R1圆弧若R1圆弧的第一次回波位于水平 刻度1.5格处则R2圆弧的第一 次回波将出现在
用入射角为30°的有机玻璃斜探头探测钢时折射横波的折射角是
在X≥3N的距离上当声程相同时若孔径相差一倍则球孔回波高度差dB
超声波纵波从水中倾斜入射到金属材料中时折射角主要取决于
超声波探伤仪上的进波报警是指缺陷回波在下述那种情况下报警?
在X≥3N的距离上当声程相同时若孔径相差一倍则平底孔回波高度差dB
表征材料声学特性的材质衰减主要是由所引起的
一般情况下对于薄层反射体若其厚度为可得到最大反射信号
发射电路输出的电脉冲其电压通常可达:
在远场区同直径的平底孔声程从100mm增大到300mm若不计材质衰减则声压 减小
声压反射率r与声强反射率R之间的关系为
在评定缺陷大小时通常采用当量法现发现一个缺陷大小为Φ2mm平底孔当量该缺陷的 实际大小
声压反射率r与声压透射率t之间的关系为
超声波检测条件的主要考虑因素是f
材料的晶粒尺寸约大于多少波长时超声波的散射会影响试验结果
用纵波直探头探伤找到缺陷最大回波後缺陷的中心位置
声程大于3N时声程增加一倍球孔的反射声压为原来的
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