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1质控规则表示

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一个质控结果超过+_3s,为违背此规则,提示存在随机误差  两个连续质控结果同时超过+2s或-2s,为违背此规则,表示存在系统误差  同批两个质控结果之差值超过4s,即一个质控结果超过+2s,另一质控结果超过-2s,表示存在随机误差  一个质控品连续的四次测定结果都超过+1s或-1s,两个质控品连续两次测定都超过+1s或-1s,为违背此规则,表示存在系统误差  10个连续的质控结果在平均数一侧,为违背此规则,表示存在系统误差  
同批两个质控结果之差值超过4s,即一个质控结果超过+2s,另一质控结果超过-2s,表示存在随机误差  一个质控结果超过±3S,为违背此规则,提示存在随机误差  两个连续质控结果同时超过x+2s或-2s,为违背此规则,表示存在系统误差  一个质控品连续的四次测定结果都超过+1s或-1s,两个质控品连续两次测定都超过+1s或-1s,为违背此规则,表示存在系统误差  10个连续的质控结果在平均数一侧,为违背此规则,表示存在系统误差  
同批两个质控结果之差值超过4s,即一个质控结果超过+2s,另一质控结果超过-2s  一个质控结果超过±3s,为违背此规则,提示存在随机误差  两个连续质控结果同时超过+2s或-2s,为违背此规则,表示存在系统误差  一个质控品连续的四次测定结果都超过+1s或-1s,为违背此规则,表示存在系统误差  10个连续的质控结果在平均数一侧,为违背此规则,表示存在系统误差  
同批两个质控结果之差值超过4s,即一个质控结果超过均值+2s,另一质控结果超过均值-2s,表示存在随机误差  一个质控结果超过均值±3s,为违背此规则,提示存在随机误差  两个连续质控结果同时超过均值+2s或均值-2s,为违背此规则,表示存在系统误差  一个质控品连续的四次测定结果都超过均值+1s或均值一1s,或两个质控品连续两次测定都超过均值+1s或均值一1s,为违背此规则,表示存在系统误差  十个连续的质控结果在平均数一测,为违背此规则,表示存在系统误差  
一个质控结果超过+_3s,为违背此规则,提示存在随机误差  两个连续质控结果同时超过+2s或-2s,为违背此规则,表示存在系统误差  同批两个质控结果之差值超过4s,即一个质控结果超过+2s,另一质控结果超过-2s  一个质控品连续的四次测定结果都超过+1s或-1s,为违背此规则,表示存在系统误差  10个连续的质控结果在平均数一侧,为违背此规则,表示存在系统误差  
同批两个质控结果之差值超过4s,即一个质控结果超过均值+2s,另一质控结果超过均值-2s,表示存在随机误差  一个质控结果超过均值±3s,为违背此规则,提示存在随机误差  两个连续质控结果同时超过均值+2s或均值-2s,为违背此规则,表示存在系统误差  一个质控品连续的四次测定结果都超过均值+1s或均值-1s,或两个质控品连续两次测定都超过均值+1s或均值-1s,为违背此规则,表示存在系统误差  十个连续的质控结果在平均数一测,为违背此规则,表示存在系统误差  
1个质控测定值超过均值±2s限,仅用作警告  2个连续质控测定值超过均值±2s限,为失控,提示存在系统误差  1个质控值超过均值±3s限,为失控,提示存在随机误差  4个连续的质控值同时超过均值+1s限或均值-1s限,为失控,提示存在系统误差  10个连续的质控值在均值的一侧,表示存在系统误差  
多规则质控方法的使用类似于Levey-Jennings质控图的使用,但是质控结果的解释更具有结构化  Westgard质控图中以不同的颜色表示不同的控制限水平  Westgard多规则质控图是将多规则质控方案同Levey-Jennings质控图结合起来  多规则质控方法的使用使假失控率增高,误差检出率增高,更易检出随机误差和系统误差,因此,临床应用日趋广泛  常用的多规则质控方法包括12s,13s,22s,R4s,10等  
一个质控结果超过+_3s,为违背此规则,提示存在随机误差  两个连续质控结果同时超过+2s或-2s,为违背此规则,表示存在系统误差  同批两个质控结果之差值超过4s,即一个质控结果超过+2s,另一质控结果超过-2s,表示存在随机误差  一个质控品连续的四次测定结果都超过+1s或-1s,两个质控品连续两次测定都超过+1s或-1s,为违背此规则,表示存在系统误差  10个连续的质控结果在平均数一侧,为违背此规则,表示存在系统误差  
同批两个质控结果之差值超过4s,即一个质控结果超过+2s,另一质控结果超过-2s,表示存在随机误差  一个质控结果超过±3s,为违背此规则,提示存在随机误差  两个连续质控结果同时超过+2s或-2s,为违背此规则,表示存在系统误差  一个质控品连续的四次测定结果都超过+1s或-1s,两个质控品连续两次测定都超过+1s或-1s,为违背此规则,表示存在系统误差  10个连续的质控结果在平均数一侧,为违背此规则,表示存在系统误差  
同批两个质控结果之差值超过4s,即一个质控结果超过+2s,另一质控结果超过-2s,表示存在随机误差  一个质控结果超过±3s,为违背此规则,提示存在随机误差  两个连续质控结果同时超过+2s或-2s,为违背此规则,表示存在系统误差  一个质控品连续的四次测定结果都超过+1s或-1s,两个质控品连续两次测定都超过+1s或-1s,为违背此规则,表示存在系统误差  10个连续的质控结果在平均数一侧,为违背此规则,表示存在系统误差  
一个质控结果超过+_3S,为违背此规则,提示存在随机误差  两个连续质控结果同时超过+2s或-2s,为违背此规则,表示存在系统误差  同批两个质控结果之差值超过4s,即一个质控结果超过+2s,另一质控结果超过-2s,表示存在随机误差  一个质控品连续的四次测定结果都超过+1s或-1s,两个质控品连续两次测定都超过+1s或-1s,为违背此规则,表示存在系统误差  10个连续的质控结果在平均数一侧,为违背此规则,表示存在系统误差  
同批两个质控结果之差值超过4s,即一个质控结果超过均值+2s,另一质控结果超过均值-2s,表示存在随机误差  一个质控结果超过均值±3s,为违背此规则,提示存在随机误差  两个连续质控结果同时超过均值+2s或均值-2s,为违背此规则,表示存在系统误差  一个质控品连续的四次测定结果都超过均值+1s或均值-1s,或两个质控品连续两次测定都超过均值+1s或均值-1s,为违背此规则,表示存在系统误差  十个连续的质控结果在平均数一测,为违背此规则,表示存在系统误差  
同批两个质控结果之差值超过4s,即一个质控结果超过均值+2s,另一质控结果超过均值-2s,表示存在随机误差  一个质控结果超过均值±3s,为违背此规则,提示存在随机误差  两个连续质控结果同时超过均值+2s或均值-2s,为违背此规则,表示存在系统误差  一个质控品连续的四次测定结果都超过均值+1s或均值-1s,或两个质控品连续两次测定都超过均值+1s或均值-1s,为违背此规则,表示存在系统误差  十个连续的质控结果在平均数一测,为违背此规则,表示存在系统误差  
41S:一个质控品连续4次测定结果都超过x+1s或x-1s,再加上2个质控品连续两次测定都超过x+1s或x-1s,为违背此规则,表示存在随机误差  12s:一个质控结果超过x±2s,如违背此规则,提示失控  R4s:同批两个质控结果之差值超过4s,即一个质控结果超过x+2s,另一质控结果超过x-2s,表示存在系统误差  22s:两个连续质控结果同时超过x+2s或x-2s,为违背此规则,表示存在随机误差  10x:十个连续的质控结果在平均数一侧,为违背此规则,表示存在系统误差  
同批两个质控结果之差值超过4s,即一个质控结果超过+2s,另一质控结果超过-2s,表示存在随机误差  一个质控结果超过±3s,为违背此规则,提示存在随机误差  两个连续质控结果同时超过+2s或-2s,为违背此规则,表示存在系统误差  一个质控品连续的四次测定结果都超过+1s或-1s,两个质控品连续两次测定都超过+1s或-1s,为违背此规则,表示存在系统误差  10个连续的质控结果在平均数一侧,为违背此规则,表示存在系统误差  
同批两个质控结果之差值超过4s,即一个质控结果超过均值+2s,另一质控结果超过均值-2s,表示存在随机误差  一个质控结果超过均值±3s,为违背此规则,提示存在随机误差  两个连续质控结果同时超过均值+2s或均值-2s,为违背此规则,表示存在系统误差  一个质控品连续的4次测定结果都超过均值+1s或均值-1s,或两个质控品连续两次测定都超过均值+1s或均值-1s,为违背此规则,表示存在系统误差  十个连续的质控结果在平均数一测,为违背此规则,表示存在系统误差