电子透镜

有效放大倍数和放大倍数在意义上有何区别

德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是

在一块冷轧钢板中可能存在哪几种内应力它的衍射谱有什么特点按本章介绍的方法可测出哪一类应力

可以消除的像差是

蓝移

样品台的结构与功能如何它应满足哪些要求

最常用的X射线衍射方法是

背散射电子

M层电子回迁到K层后多余的能量放出的特征X射线称

电子衍射成像时是将

试简要总结由分析简单点阵到复杂点阵衍射强度的整个思路和要点

X射线学有几个分支每个分支的研究对象是什么

当X射线将某物质原子的K层电子打出去后L层电子回迁K层多余能量将另一个L层电子打出核外这整个过程将产生

薄片状晶体的倒易点形状是

衍射仪法中的试样形状是

俄歇电子

聚光镜物镜中间镜和投影镜各自具有什么功能和特点

当偏离矢量S

Ⅹ射线具有波粒二象性其微粒性和波动性分别表现在哪些现象中

测角仪在采集衍射图时如果试样表面转到与入射线成30°角则计数管与人射线所成角度为多少能产生衍射的晶面与试样的自由表面呈何种几何关系

当X射线发生装置是Cu靶滤波片应选

粉末样品颗粒过大或过小对德拜花样影响如何为什么板状多晶体样品晶粒过大或过小对衍射峰形影响又如何

特征X射线与荧光X射线的产生机理有何异同某物质的K系荧光X射线波长是否等于它的K系特征X射线波长

质厚衬度

何为可动光阑第二聚光镜光阑物镜光阑和选区光阑在电镜的什么位置它们各具有什么功能

伸缩振动

菊池线可以帮助

什么是分辨率影响透射电子显微镜分辨率的因素是哪些

成像系统的主要构成及其特点是什么

欲在应力仪测角仪为立式上分别测量圆柱形工件之轴向径向及切向应力工件各应如何放置假定测角仪为卧式今要测定一个圆柱形零件的轴向及切向应力问试样应该如何放置

消像散器的作用和原理是什么

影响电磁透镜景深和焦长的主要因素是什么景深和焦长对透射电子显微镜的成像和设计有何影响

物相定量分析的原理是什么试述用K值法进行物相定量分析的过程

分析下列荧光辐射产生的可能性为什么1用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射2用CuKβX射线激发CuKα荧光辐射3用CuKαX射线激发CuLα荧光辐射

什么叫相干散射非相干散射荧光辐射吸收限俄歇效应

若H-800电镜的最高分辨率是0.5nm那么这台电镜的有效放大倍数是

举例说明如何用选区衍射的方法来确定新相的惯习面及母相与新相的位相关系

在水平测角器的衍射仪上安装一侧倾附件用侧倾法测定轧制板材的残余应力当测量轧向和横向应力时试样应如何放置

测角仪中探测器的转速与试样的转速关系是

单晶体电子衍射花样是

能帮助消除180º不唯一性的复杂衍射花样是

球差像散和色差是怎样造成的如何减小这些像差哪些是可消除的像差

当电子把所有能量都转换为X射线时该X射线波长称

为什么会出现吸收限K吸收限为什么只有一个而L吸收限有三个当激发K系荧光Ⅹ射线时能否伴生L系当L系激发时能否伴生K系

选区光栏在TEM镜筒中的位置是

点分辨率和晶格分辨率在意义上有何不同

可以提高TEM的衬度的光栏是

照明系统的作用是什么它应满足什么要求

说明多晶单晶及厚单晶衍射花样的特征及形成原理

试总结德拜法衍射花样的背底来源并提出一些防止和减少背底的措施

用来进行晶体结构分析的X射线学分支是

物相定性分析的原理是什么对食盐进行化学分析与物相定性分析所得信息有何不同

如果单晶体衍射花样是正六边形那么晶体结构是

为何对称入射时即只有倒易点阵原点在爱瓦尔德球面上也能得到除中心斑点以外的一系列衍射斑点

物相鉴定

同一粉末相上背射区线条与透射区线条比较起来其θ较高还是较低相应的d较大还是较小既然多晶粉末的晶体取向是混乱的为何有此必然的规律

产生X射线需具备什么条件

溅射

辐射的发射