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描述PET系统对随机符合及由死时间引起的计数丢失的校正精度 用校正后的剩余相对误差△R表示校正精度 
为真实符合计数率 
为无随机符合和计数丢失情况下的计数率
多次测量，求平均值 空白试验 提高仪器精度 与对照品平行操作 将结果用校正公式校正
系统误差按其产生的原因可分为仪器误差、方法误差和操作误差等 系统误差可以用对照试验、空白试验、校正仪器等方法加以校正 系统误差可以由仪器本身不够精密或未经校正等原因而引起 在滴定分析中，滴定终点和理论终点不符合不会产生系统误差
Ⅰ.Ⅱ.Ⅲ.Ⅳ Ⅰ.Ⅲ.Ⅳ Ⅰ.Ⅱ.Ⅳ Ⅱ.Ⅲ.Ⅳ
散射校正精度描述PET系统对散射符合事件的剔除能力 用散射校正后的剩余误差ΔC描述散射校正精度 在热背景中插入冷插件，进行散射校正后，ΔC=(C
/C
)×100% C为图像上冷插件内计数 C为图像上的总计数
描述PET系统对随机符合及由死时间引起的计数丢失的校正精度 用校正后的剩余相对误差△R表示校正精度 
为真实符合计数率 
为无随机符合和计数丢失情况下的计数率
描述PET系统对随机符合及由死时间引起的计数丢失的校正精度 用校正后的剩余相对误差△R表示校正精度 △R=(Rtrues/Rextrap-1)×100% Rtrues为真实符合计数率 Rextrap为无随机符合和计数丢失情况下的计数率
背景减除法 探测效率的归一化 单计数率法 死时间校正 延迟符合窗法
散射校正精度描述PET系统对散射符合事件的剔除能力 用散射校正后的剩余误差ΔC描述散射校正精度 在热背景中插入冷插件，进行散射校正后，ΔC=（Ccold/CB）×100% Ccold为图像上冷插件内计数 CB为图像上的总计数
散射校正精度描述PET系统对散射符合事件的剔除能力 用散射校正后的剩余误差△C描述散射校正精度 在热背景中插入冷插件，进行散射校正后，△C=(Ccold/CB)×100% Ccold为图像上冷插件内计数 CB为图像上的总计数
解释变量是随机变量 随机误差项服从正态分布 各个随机误差项的方差相同 各个随机误差项之间不相关
统计工作的四个步骤中最关键的是设计 若样本量足够大，可将频率作为概率的估计值 正确的抽样方法可以避免样本的偏性 正确的统计方法可以避免随机误差 普查资料不需要统计推断
误差的大小和方向预先是无法知道的 随机误差完全符合统计学规律 随机误差的大小和符号按一确定规律变化 随机误差的分布具有单峰性、对称性、有界性和抵偿性
描述PET系统对随机符合及由死时间引起的计数丢失的校正精度 用校正后的剩余相对误差△R表示校正精度 
为真实符合计数率 
为无随机符合和计数丢失情况下的计数率
滴定过程中，指示剂选择不恰当而造成的误差 量筒读数时，因个人读数习惯而产生的误差 滴定管未经校正而引起的误差 所用的试剂不纯而产生的误差 称量时砝码被腐蚀而产生的误差
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