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为了校验分析仪器是否存在系统误差,下列方法不正确的是()。

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系统误差按其产生的原因可分为仪器误差、方法误差和操作误差等  系统误差可以用对照试验、空白试验、校正仪器等方法加以校正  系统误差可以由仪器本身不够精密或未经校正等原因而引起  在滴定分析中,滴定终点和理论终点不符合不会产生系统误差  
系统误差又称可测误差,是可以测量的  系统误差使测定结果系统的偏高或系统的偏低  系统误差一般都来自测定方法本身  系统误差大小是恒定的  
分析中存在干扰物  吸管未经校正  分析仪器波长不准  天平未经校正  标本量加错  
样品中存在干扰物  天平未经校正  分析仪器波长不准  标本量加错  吸管未经校正  
系统误差又叫可测误差,主要是由某种固定的原因造成的  偶然误差是定量分析中误差的主要来源  系统误差是可以通过校正的方法予以消除或减小  
反应温度调高  试剂和保质期已过  反应时间记录错误  标本量加错  分析仪器波长不准  
测量误差按性质可分为系统误差和偶然误差  系统误差可以通过测量方法加以消除,所以测量成果中没有系统误差  经纬仪视准轴误差属于系统误差  为了减弱仪器i角误差,水准测量采用控制视距差及视距累积差的方法  
反应温度调高  试剂的保质期已过  反应时间记录错误  标本量加错  分析仪器波长不准  
吸管未经校正  分析仪器波长不准  分析中存在干扰物  天平未经校正  标本量加错  
试剂不纯  蒸馏水不纯  所用器皿被玷污  分析仪器不准确  
反应温度调高  试剂和保质期已过  反应时间记录错误  标本量加错  分析仪器波长不准  
分析方法或分析仪器错误  采样方法不正确  减顶气相管线或空冷泄漏  减压塔泄漏  
空白试验  回收试验  增加测定次数  对各种仪器进行校正  
系统误差按其产生的原因可分为仪器误差、方法误差和操作误差等  系统误差可以用对照试验、空白试验、校正仪器等方法加以校正  仪器本身精密不够或未经校正不会引起系统误差  重量分析中,由于沉淀的溶解或因吸附某些杂质亦可产生系统误差  
样品中存在干扰物  天平未经校正  分析仪器波长不准  标本量加错  吸管未经校正  
系统误差又称可测误差,是可以测量的  系统误差使测量结果系统的偏高或系统的偏低  系统误差一般都是来自测量方法本身  系统误差大小是恒定的  
试剂的保质期已过  反应时间记录错误  反应温度调高  标本量加错  分析仪器波长不准  

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