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温度对 tA n δ测试结果具有较大影响 , 一般同一被试设备 ,tA n δ随温度的升高而( ) 。

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温度对tanδ测试结果具有较大影响一般同一被试设备tanδ随温度的升高而

升高降低不变

介质损耗角正切值tAnδ对局部集中缺陷不太灵敏时一般将设备进行分解试验

一般认为电力变压器绕组tAnδ测试时的温度以10~40oC为宜

同一被试在不同时间用同一测验或另一套相等的测验重复测验所得结果的一致性程度称为

效度信度标准化命中率

一般认为电力变压器绕组tAnδ测试时的温度以为宜

0-5o 0-10o D.0o

下列叙述正确的是

同一被试不同测验上的原始分数可以比较同一被试不同测验上的原始分数不可以比较不同年龄组间的离差智商值不可以比较同一被试不同测验上的标准分数不可以比较

温度对tan&测试结果具有较大影响一般同一被试设备tan&随温度的升而升高

nδ测试结果具有较大影响一般同一被试设备tanδ随温度的升高而升高

是指同一被试在不同时间内用同一测验或用另一套相等的测验重复测量所得结果的一致程度

信度效度难度区分度

温度对tan&测试结果具有较大影响一般同一被试设备tan8随温度的升而升高

温度对tan6测试结果具有较大影响一般同一被试设备tan6随温度的升高而升高

当被试品具有较大电容时tAnδ测试不能有效反映试品中可能存在的局部缺陷

tAnδ测试时随着试验电压U的变化tAnδ值呈开口环曲线则试品属于

良好绝缘绝缘中存在气隙绝缘受潮

温度对tan&测试结果具有较大影响一般同一被试设备tan&随温度的升高而

升高降低不变

是指在不同时间内用同一测验或用另一套相等的测验重复测量同一被试者.所得结果的一致程度

信度效度难度区分度

当被试品具有较大电容时tAnδ测试只能反映整体的绝缘状况

一般来说被试设备的体积电容愈大或局部集中缺陷的范围愈小总体tAnδ 的数值增加也就愈小对缺陷的反映愈

是指同一被试在不同时间内用同一测验或用另一套相同的测验重复测验所得结果的一致程度

信度效度难度区分度

西林电桥测试tan6时升压试验一般采用电压等级为110kV的电压互感器

对于额定电压为35kV及以上的设备测试tAnδ时一般升压至

10kV 500kV 110kV

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