当前位置: X题卡 > 所有题目 > 题目详情

对X线照片颗粒性测量的叙述,错误的是()

查看本题答案

你可能感兴趣的试题

X线透过被照体之后的透射线和散射线,照射到胶片上形成照片影像  X线照片影像是X线被照体吸收与散射后形成的  X线照片影像是利用了X线透射线的直进性  照片接受的散射线不形成影像  常规X线照片与CT片的影像均利用了X线的穿透性  
荧光体颗粒  乳剂银颗粒  银颗粒、荧光体颗粒组合  X线照片斑点  X线照片的颗粒度  
物理测定值为颗粒度  X线量子斑点影响照片颗粒性  X线照片上颗粒聚集的区域,称噪声  增感屏斑点是造成照片斑点的主要因素  量子斑点是X线量子的统计涨落在照片上的记录  
物理测定值为颗粒度  X线量子斑点影响照片颗粒性  X线照片上颗粒聚集的区域,称噪声  增感屏斑点是造成照片斑点的主要因素  量子斑点是X线量子的统计涨落在照片上记录  
X线透过被照体之后的透射线和散射线,照射到胶片上形成照片影像  X线照片影像是X线受被照体吸收与散射后形成的  X线照片影像是利用了X线透射线的直进性  照片接受的散射线不形成影像  X线照片影像与CT影像均利用了X线的穿透性  
是威纳频谱英文的缩写  是测量照片颗粒性的一种方法  在影像学中以空间频率为变量的函数  可分析出形成X线照片斑点原因及所占比例  空间频率增加,量子斑点与照片斑点比例均增加  
物理测定值为颗粒度  X线量子斑点影响照片颗粒性  X线照片上颗粒聚集的区域,称噪声  增感屏斑点是造成照片斑点的主要因素  量子斑点是X线量子的统计涨落在照片上的记录  
主观性颗粒质量-肉眼观察获得的颗粒状况  客观性颗粒质量-物理学检查的颗粒状况  常用的检测方法有RMS的测量  常用的检测方法有维纳频谱的测量  MTF用米测量颗粒度  
是威纳频谱英文的缩写  是测量照片颗粒性的一种方法  在影像学中以空间频率为变量的函数  可分析出形成X线照片斑点原因及所占比例  空间频率增加,量子斑点与照片斑点比例均增加  
影像颗粒性的物理测定值为颗粒度  X线量斑点影响照片颗粒性  X线照片上颗粒聚集的区域称噪声  增感屏的尺寸越小噪声就越大  量子斑点是X线量子的统计涨落在照片上记录  
物理测定值为颗粒度  X线量了斑点影响照片颗粒性  X线照片上颗粒聚集的区域,称噪声  增感屏斑点是造成照片斑点的主要因素  量子斑点是X线量子的统计涨落在照片上的记录