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锻件探伤时,如果用试块比较法对缺陷定量,对于表面粗糙的缺陷,缺陷实际尺寸会（）。

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用底波法调节锻件探伤灵敏度时下面有关缺陷定量的叙述中哪点是错误的

可不考虑探伤耦合差补偿缺陷定量可采用计算法或 A.V.C曲线法可不使用试块缺陷定量可不考虑材质衰减差修正

锻件检测如果用试块比较法对缺陷定量对于表面粗糙的缺陷缺陷实际尺寸会

大于当量尺寸等于当量尺寸小于当量尺寸以上都可能

用底波调节法校准锻件检测灵敏度时下面有关缺陷定量的叙述中哪点是错误的

可不考虑检测耦合差补偿缺陷定量可采用计算法或 AVG 曲线法可不使用试块缺陷定量可不考虑衰减差修正

用底波法调节锻件探伤灵敏度时下面有关缺陷定量的叙述中哪点是错误的

可不考虑探伤面耦合差补偿可采用计算法或AVG曲线法可不使用试块可不考虑材质衰减修正

锻件探伤时如缺陷被探伤人员判定为白点则应按密集缺陷评定锻件等级

锻件探伤中如缺陷引起底波明显时说明锻件中存在较严重的缺陷

用试块法调节锻件探伤灵敏度时应作及补偿

锻件探伤中若缺陷垂直于探测面且缺陷稍有曲折或较粗糙时若采用高灵敏度探伤其反射波特征是

反射波峰尖锐反射波稳定但较波幅低反射波幅低，回波包络宽度较大

磁粉探伤用环形人工缺陷试块用于旋转磁场法的磁粉材料和系统灵敏度的评价

超声波检测中所谓缺陷的指示长度指的是

采用当量试块比较法测定的结果对大于声束的缺陷，采用底波对比而测得的结果根据缺陷反射波高和探头移动的距离而测得的结果缺陷定量法之一，和AVG曲线的原理相同

锻件探伤时.如果用试块比较法对缺陷定量对于表面粗糙的缺陷缺陷实际尺寸会

大于当量尺寸等于当量尺寸小于当量尺寸以上都可能

磁粉探伤用环形人工缺陷试块用于线圈法的磁粉材料和系统灵敏度的评价

锻件探伤时如缺陷被探伤人员判定为白点．则应按密集缺陷评定锻件等级

用试块法校准锻件检测灵敏度当试块表面形状粗糙度与锻件不同时要进行耦合补偿

超声探伤中所谓缺陷的指示长度指的是

采用当量试块比较法测定的结果对大于声束的缺陷，采用底波对比而测得的结果根据缺陷反射波高和探头移动的距离而测得的结果缺陷定量法之一，和AVG曲线的原理相同

锻件探伤中若缺陷垂直于探测面且缺陷面有曲折或较粗糙时若采用高灵敏度探伤其反射波特征是

反射波峰尖锐反射波稳定但较波幅低反射波幅低，宽度较大

磁粉探伤用环形人工缺陷试块用于复合磁化法的磁粉材料和系统灵敏度的评价

锻件探伤中若缺陷垂直于探测面且缺陷稍有曲折或较粗糙时若采用高灵敏度探伤其反射波特征是

反射波峰尖锐反射波稳定但较波幅低反射波幅低，回波包络宽度较大

超声波探伤试块的作用是

检验仪器和探头的组合性能确定灵敏度缺陷定量缺陷定位

当量法中利用试块比较法对缺陷定量要尽量使试块与工件的一致并且其他探测条件不变

表面粗糙度材质形状高低大小

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