你可能感兴趣的试题
感烟式探测器 感光式探测器 图像式探测器 光束式探测器
钨酸镉晶体探测器 气体探测器 电离室探测器 稀土陶瓷探测器 比例计数型探测器
硒鼓检测器 CR成像板(IP) 直接转换平板探测器 间接转换平板探测器 多丝正比室检测器
感烟式探测器 感光式探测器 图像式探测器 光电式探测器
目前,4层螺旋CT的探测器大致可分为两种类型:等宽型和不等宽型探测器阵列 等宽型探测器排列的层厚组合较为灵活 等宽型探测器排列会造成有效信息的丢失 不等宽型探测器会造成有效信息的丢失 不等宽型探测器射线的利用率较高
感烟式探测器 光束式探测器 图像式探测器 光焰式探测器
间接转换型探测器 直接转换型探测器 固体探测器 高速转换型探测器 金属探测器
CCD检测器 IP成像转换器 直接转换平板探测器 间接转换平板探测器 多丝正比室检测器
硒鼓检测器 IP成像转换器 直接转换平板探测器 间接转换平板探测器 多丝正比室检测器
目前基本都采用高效稀土陶瓷探测器,这类探测器转换效率极高而余辉又极短 探测器的功能是采集数据,判断探测器性能高低的指标是探测器物理个数的多少 等宽型探测器排列层厚的组合形式的较为灵活,但其间的间隔会导致有效信息的丢失 探测器的最小层厚是确定图像纵向分辨率的关键因素 锥角越大则在影像重建中产生的误差越大,探测器开口较窄时可以减少这种误差
目前基本都采用高效稀土陶瓷探测器,这类探测器转换效率极高而余辉又极短 探测器的功能是采集数据,判断探测器性能高低的指标是探测器物理个数的多少 等宽型探测器排列层厚的组合形式的较为灵活,但其间的间隔会导致有效信息的丢失 探测器的最小层厚是确定图像纵向分辨率的关键因素 锥角越大则在影像重建中产生的误差越大,探测器开口较窄时可以减少这种误差
对X线的不感应区较大 整个阵列中的探测器不容易做到完全一致 晶体发光后余晖较长 有较高的光子转换效率 相邻探测器之间存在缝隙
相邻的探测器之间存在有缝隙 有较高的光子转换效率 晶体发光后余晖较长 整个阵列中的各个探测器不易做得完全一致 对X射线的不感应区较大
探测器阵列-DAS-ADC-阵列处理器 DAS-ADC-阵列处理器-探测器阵列 ADC-探测器阵列-DAS-阵列处理器 阵列处理器-探测器阵列-ADC-DAS ADC-DAS-探测器阵列-阵列处理器
硒鼓检测器 CR成像板(IP) 直接转换平板探测器 间接转换平板探测器 多丝正比室检测器
准直螺距和层厚螺距是自2层螺旋CT出现后对螺距的一些不同计算方法 准直螺距不管是单层还是多层螺旋CT,都是准直器打开的宽度除以所使用探测器阵列的总宽度 准直螺距不考虑所使用探测器的排数和宽度 层厚螺距是准直器打开的宽度除以扫描时所使用探测器的宽度 层厚螺距着重体现了扫描时所使用探测器的排数
Siemens的4层螺旋CT属于典型的等宽型探测器 等宽型探测器的优点在于层厚组合较为灵活 等宽型探测器的优点是探测器的间隙少 等宽型探测器较不等宽型探测器射线利用率高 GE的4层螺旋CT不属于典型的等宽型探测器