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扫描时间=（TE×NY×NEX）/ETL 扫描时间=（TE×TR×NEX）/ETL 扫描时间=（TR×NY×NEX）/ETL 扫描时间=（TE×TR×NY）/ETL 扫描时间=TR×NY×NEX
TR≥2000ms，TE≥80ms TR≤1500ms，TE≤1500ms TR≤100ms，TE≤1500ms TR≥100ms，TE≤2000ms TR≥60ms，TE≤1500ms
扫描时间=TE×NY×NEX 扫描时间=TR×NY×NEX 扫描时间=TE×TR×NEX 扫描时间=TE×TR×NY 扫描时间=(TR×NY×NEX)/ETL
TR≥60ms，TE≤1500ms TR≥600ms，TE≤2000ms TR≥80ms，TE≥2000ms TR≥2000ms，TE≤50ms TR≤100ms,TE≤1500ms
扫描时间=TE×NY×NEX 扫描时间=TR×NY×NEX 扫描时间=TE×TR×NEX 扫描时间=TE×TR×NY 扫描时间=（TR×NY×NEX）/ETL
SE序列最常应用 SE序列有两个扫描参数，即 FIR与TE 选择不同的TR与TE可分别获得T1WI、T2wI和PdWI 一般TR用300～3000ms，TE用15～90ms MR信号强度与TR、T2成反比，与TE、T1成正比
TR2500ms，TE100ms TR400ms，TE100ms TR400ms，TE15ms TR1000ms，TE75ms TR2500ms，TE15ms
SE序列最常应用 SE序列有两个扫描参数，即 FIR与TE 选择不同的 TR与TE可分别获得 T1WI、T2wI和PdWI 一般TR用300～3000ms，TE用15～90ms MR信号强度与 TR、T2成反比，与 TE、T1成正比
视野即扫描野 视野指扫描架的扫描孔的大小 视野为正方形 视野是重建参数之一 视野可用 FOV表示
TR2500ms，TE100ms。 TR400ms，TE100ms。 TR400ms，TE15ms。 TR1000ms，TE75ms。 TR2500ms，TE15ms。
SE序列最常应用 SE序列有两个扫描参数，即TE与TR 选择不同的TR与TE可分别获得T1WI、T2WI和PDWI 一般TR用300～3000ms，TE用15～90ms MR信号强度与TR、T2成反比，与TE、T1成正比
扫描时间=(TE×NY×NEX)/ETL 扫描时间=(TE×TR×NEX)/ETL 扫描时间=(TR×NY×NEX)/ETL 扫描时间=(TE×TR×NY)/ETL 扫描时间=TR×NY×NEX
SE序列最常应用 SE序列有两个扫描参数，即 FIR与TE 选择不同的TR与TE可分别获得TlWI、T2wI和PdWI 一般TR用300～3000ms，TE用15～90ms MR信号强度与TR、T2成反比，与TE、T1成正比
TE 8ms，TR 300ms TE 15ms，TR 400ms TE 20ms，TR 2500ms TE 50ms，TR 2000ms TE 80ms，TR 2500ms
TR2500ms，TE100ms TR400ms，TE100ms TR400ms，TE15ms TR1000ms，TE75ms TR2500ms，TE15ms
TR2500ms，TE100ms TR400ms，TE100ms TR400ms，TE15ms TR1000ms，TE75ms TR2500ms，TE15ms
TR2500ms，TE100ms。 TR400ms，TE100ms。 TR400ms，TE15ms。 TR1000ms，TE75ms。 TR2500ms，TE15ms。
所谓动态序列扫描就是按照特定序列进行扫描 动态序列扫描每次扫描多个层面 动态序列扫描时间不变 动态序列扫描被扫描的层面不变 动态序列扫描的参数不变
TR≥2000ms，TE≥80ms TR≤1500ms，TE≤1500ms TR≤100ms，TE≤1500ms TR≥100ms，TE≤2000ms TR≥60ms，TE≤1500ms
TR≥60ms，TE≤1500ms TR≥600ms，TE≤2000ms TR≥80ms，TE≥2000ms TR≥2000ms，TE≤50ms TR≤100ms，TE≤1500ms
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