当前位置: X题卡 > 所有题目 > 题目详情

关于X线的特性叙述错误的是

查看本题答案

你可能感兴趣的试题

被照体的差异是基础  受荧光体特性影响  与胶片特性无关  与观片灯因素有关  取决于医师的知识、经验等  
表示X线透过物质后的分布差异  μ为吸收系数  d为X线穿过物质的距离  Kx与物质的特性无关  μ随管电压升高而降低  
表示X线透过物质后的分布差异  μ为吸收系数  d为X线穿过物质的距离  Kx与物质的特性无关  μ随管电压升高而降低  
X线量是指X线光子的穿透能力  X线量是根据X线特性直接测量  与靶面物质的原子序数Z成反比  与给予X线管的电能成反比  X线诊断范围内常用mAs表示  
X线具有微粒性  X线在传播时,突出表现了波动性  X线与物质相互作用时,突出表现了粒子特征  X线带电,易受外界磁场或电场的影响  X线只有运动质量,没有静止质量  
X线量是指X线光子的穿透能力  X线量是根据X线特性直接测量  与靶面物质的原子序数Z成反比  与给予X线管的电能成反比  诊断X线范围常用mAs表示  
与观片灯因素有关  被照体的差异是基础  与胶片特性无关  受荧光体特性影响  取决于医师的知识、经验等  
表示X线透过物质后的分布差异  μ为吸收系数  d为X线穿过物质的距离  Kx与物质的特性无关  μ随管电压升高而降低  
有广泛的波长和频率  具有微粒性和波动性  真空中传播速度与光速相同  X线具有静止质量  X线是以波的方式传播的  
有广泛的波长和频率  具有微粒性和波动性  真空中传播速度与光速相同  X线具有静止质量  X线是以波的方式传播  
X线量是指X线光子的穿透能力  X线量是根据X线特性直接测量  与靶面物质的原子序数z成反比  与给予X线管的电能成反比  诊断X线范围常用mAs表示  
被照体的差异是基础  受荧光体特性影响  与胶片特性无关  与观片灯因素有关  取决于医师的知识、经验等