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从各个方向都能探测到的缺陷形状是点状缺陷。（）

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靠近探头的缺陷不一定都能探测到因为超声波检测仪器存在有仪器效应

靠近探头的缺陷不一定都能探测到因为有

声束扩散材质衰减仪器阻塞效应折射

靠近探头的缺陷不一定都能探测到因为有

声束扩散材质衰减仪器阻塞效应折射

超声波探伤从各个方向都能探测到的缺陷是缺陷

平面形圆柱形点状形片状形

磁粉探伤能够探测到工件内部深处的缺陷

从各个方面都能探测到的缺陷肯定是平面缺陷

下列有关磁化电流方向与缺陷方向之间关系的正确叙述是

直接通电磁化时，与电流方向垂直的缺陷最容易探测到直接通电磁化时，与电流方向平行的缺陷最容易探测到直接通电磁化时，与电流方向无关，任何方向的缺陷都能探出用线圈法磁化时，与线圈内电流方向垂直的缺陷最容易探出

应用无损检测技术可以探测到的工件内部缺陷

从各个方面都能探测到的缺陷是平面缺陷

靠近探头的长条形缺陷并不一定都能探测到因为

声束扩散材质衰减仪器阻塞效应折射。

从各个方向都能测到的缺陷形状是

靠近探头的长条形缺陷并不一定都能探测到因为:

声束扩散材质衰减仪器阻塞效应折射。

下列有关磁化电流方向与缺陷方向之间关系的正确叙述是

直接通电磁化时，与电流方向垂直的缺陷最容易探测到直接通电磁化时，与电流方向平行的缺陷最容易探测到直接通电磁化时，与电流方向无关，任何方向的缺陷都能探出用线圈法磁化时，与线圈内电流方向垂直的缺陷最容易探出

受探测方向限制的缺陷类型是

平面型缺陷球型缺陷密集型缺陷点状缺陷

超声波探伤从各个方向都能探测到的缺陷是缺陷

平面形圆柱形体积形线状

从各个方向都能探测到的缺陷是点状或体积状缺陷

从各个方向上都能检测到的缺陷形状是

片状条状点状圆状

从各个方向上都能检测到的缺陷形状是

片状的条状的点状的圆状的

在超声波探伤中从各个方向都能探测到的缺陷是缺陷

从各个方向都能探测到的缺陷是平面状缺陷

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