放射性样品的计数有一定的分布规律当平均计数大于20时下列何种分布适用-X题卡

以下有关探头屏蔽性能的描述错误的是

描述探头对视野之外的源的屏蔽能力对患者本身FOV之外放射性的屏蔽：用与探头平面的垂直距离为20cm点源，在距探头FOV边缘前后10cm、20cm、30cm的最大屏蔽计数与在FOV中心处计数率的百分比表示对周围环境放射性的屏蔽：将点源置于距探头中心1m，距探头两侧及前后2m处。用探头分别朝上、下、左、右时的计数率与FOV中心处计数率的百分比表示对周围环境放射性的屏蔽性能屏蔽泄漏=最大屏蔽计数率/FOV中心计数率×100% 探头屏蔽性能反映了患者本身FOV之外放射性和周围环境放射性这两种影响的程度

下列有关探头屏蔽性能的描述错误的是

描述探头对视野之外的源的屏蔽能力对患者本身FOV之外放射性的屏蔽：用与探头平面的垂直距离为20cm点源，在距探头FOV边缘前后10cm、20cm、30cm的最大屏蔽计数与在FOV中心处计数率的百分比表示对周围环境放射性的屏蔽：将点源置于距探头中心1m，距探头两侧及前后2m处。用探头分别朝上、下、左、右时的计数率与FOV中心处计数率的百分比表示对周围环境放射性的屏蔽性能屏蔽泄漏=最大屏蔽计数率/FOV中心计数率×100% 探头屏蔽性能反映了患者本身FOV之外放射性和周围环境放射性这两种影响的程度

在使用谱仪进行样品的放射性测量时本底计数率就是指样品中的天然本底引起的计数率

放射性样品计数产生统计误差的原因是

测量仪器不稳定测量仪器的使用环境变化仪器操作者统计计数时计算错误放射性核衰变数目的统计涨落二项式分布的非对称性

放射性计数的统计规律本底对样品测量有何影影响

本底统计涨落与样品计数的统计涨落相互抵消，使样品净计数率误差为0 增加样品总计数，提高探测效率降低样品净计数率的误差增大样品净计数率的误差增加样品总计数，减低探测效率

放射性测量中所谓本底计数是指

房间空气中的放射性物质造成的计数测量设备中的放射性物质造成的计数宇宙线造成的计数测量装置被污染造成的计数移去待测样品条件下测得的装置的计数

放射性样品计数产生统计误差的原因是

测量仪器不稳定测量仪器的使用环境变化仪器操作者统计计数时计算错误放射性核衰变数目的统计涨落二项式分布的非对称性

在测量放射性样品的计数时测量结果围绕平均值的变化称为

衰变常数平均周期统计涨落布朗运动误差传递

在测量放射性样品的计数时测量结果围绕平均值的变化称为

系统误差统计涨落固有误差衰变常数误差传递

下列有关探头屏蔽性能的描述错误的是

描述探头对视野之外的源的屏蔽能力对患者本身FOV之外放射性的屏蔽：用与探头平面的垂直距离为20cm点源，在距探头FOV边缘前后10cm、20cm、30cm的最大屏蔽计数与在FOV中心处计数率的百分比表示对周围环境放射性的屏蔽：将点源置于距探头中心1m，距探头两侧及前后2m处。用探头分别朝上、下、左、右时的计数率与FOV中心处计数率的百分比表示对周围环境放射性的屏蔽性能屏蔽泄漏=最大屏蔽计数率/FOV中心计数率×100% 探头屏蔽性能反映了患者本身FOV之外放射性和周围环境放射性这两种影响的程度

放射性计数的统计规律本底对样品测量有何影响

增加样品总计数，提高探测效率增大样品净计数率的误差降低样品净计数率的误差本底统计涨落与样品计数的统计涨落相互抵消，使样品净计数率误差为0 增加样品总计数，减低探测效率

感兴趣区分析不能获得下列哪一项数据

像素数目总计数平均计数放射性活度最大计数

当平均计数较大时放射性计数测量的分布规律是

单点分布均匀分布对数分布高斯分布指数分布

感兴趣区分析不能获得的数据是

放射性活度像素数目平均计数总计数最大计数

在测量放射性样品的计数时测量结果围绕平均值的变化被叫做

布朗运动衰变常数统计涨落平均周期误差传递

单一放射性衰变过程

遵循明确的统计规律没有明确的统计规律放射性物质越多衰变常数越大一定质量的放射性物质一定时间后会衰变完毕