下列关于PET晶体厚度和尺寸的描述错误的一项是-X题卡

空白均匀性扫描时视野内无放射源，主要反映PET的本底噪声除了查看扫描结果数据外，最好再观看一下sinogram(正弦图)图像影响每日均匀性结果的因素包括两大部分，即环境因素与线路硬件环境部分包括温度、湿度与放射性污染线路硬件部分包括晶体损坏、线路接触不良或老化、__漂移等

晶体加厚使入射光子与晶体的相互作用机会增加，探测效率提高晶体加厚使光电倍增管产生的脉冲能谱展宽，能量分辨下降晶体面积增大，PET灵敏度提高晶体面积增大，PET空间分辨率提高成像时，接收到的射线均定位在小晶体探测器的中心

空白均匀性扫描时视野内无放射源，主要反映PET的本底噪声除了查看扫描结果数据外，最好再观看一下sinogram(正弦图)图像影响每日均匀性结果的因素包括两大部分，即环境因素与线路硬件环境部分包括温度、湿度与放射性污染线路硬件部分包括晶体损坏、线路接触不良或老化、__漂移等

是一项慢性传染病得病后全身溃烂，体无完肤得病后会立刻死亡，毫无治愈的可能得病后严重者会丧失活动能力

描述PET系统对随机符合及由死时间引起的计数丢失的校正精度用校正后的剩余相对误差△R表示校正精度 △R=(R_trues/R_extrap-1)×100% R_trues为真实符合计数率 R_extrap为无随机符合和计数丢失情况下的计数率

晶体加厚使入射光子与晶体的相互作用机会增加，探测效率提高晶体加厚使光电倍增管产生的脉冲能谱展宽，能量分辨下降晶体面积增大，PET灵敏度提高晶体面积增大，PET空间分辨率提高成像时，接收到的射线均定位在小晶体探测器的中心

和生物遗传因素有关本身是遗传的更多是境遇性的是一种后天习得行为

与牙体适合性好金瓷衔接处避开咬合接触区有足够的厚度和强度支持瓷层金瓷衔接处为刃状唇面应该为瓷层留出0．85~1．2mm的间隙

散射校正精度描述PET系统对散射符合事件的剔除能力用散射校正后的剩余误差ΔC描述散射校正精度在热背景中插入冷插件，进行散射校正后，ΔC=（C_cold/C_B）×100% C_cold为图像上冷插件内计数 C_B为图像上的总计数

都能产生抗体都属于特异性免疫都能产生记忆细胞都需要T细胞

有足够的厚度和强度支持瓷层与牙体适合性好金瓷衔接处避开咬合接触区金瓷衔接处为刃状唇面应该为瓷层留出0．85～1．2mm的间隙

釉柱的长度等于相应部位釉质的厚度釉柱的直径在表面较深部大釉柱是釉质的基本结构光镜下釉柱的横断面呈鱼鳞状釉柱由有一定排列方向的扁六棱柱形晶体组成

散射校正精度描述PET系统对散射符合事件的剔除能力用散射校正后的剩余误差△C描述散射校正精度在热背景中插入冷插件，进行散射校正后，△C=(C_cold/C_B)×100% C_cold为图像上冷插件内计数 C_B为图像上的总计数

有足够的厚度和强度支持瓷层与牙体适合性好金瓷衔接处避开咬合接触区金瓷衔接处为刃状唇面应该为瓷层留出0.85～1.2mm的间隙

空白均匀性扫描时视野内无放射源，主要反映PET的本底噪声除了查看扫描结果数据外，最好再观看一下sinogram（正弦图）图像影响每日均匀性结果的因素包括两大部分，即环境因素与线路硬件环境部分包括温度、湿度与放射性污染线路硬件部分包括晶体损坏、线路接触不良或老化、__漂移等

脉冲能谱分布的半高宽与入射光子能量之比越小，能量分辨率越高能窗下限可将低能量的散射光子排除掉能窗上限过高将导致真符合计数的大量丢失能量分辨率主要取决于晶体性能能量分辨率与探测系统的设计有关

脉冲能谱分布的半高宽与入射光子能量之比越小，能量分辨率越高能窗下限可将低能量的散射光子排除掉能窗上限过高将导致真符合计数的大量丢失能量分辨率主要取决于晶体性能能量分辨率与探测系统的设计有关

晶体的发射光谱愈窄，在光电倍增管中的光电转换愈好晶体的衰减长度短，探测效率提高，空间分辨高降低晶体的衰减时间短，则时间分辨好，可使随机符合事件下降，系统死时间缩短晶体光电效应分支比高，则定位精度好，能量分辨率好晶体的发光效率高，则能量分辨好

晶体的发射光谱愈窄，在光电倍增管中的光电转换愈好晶体的衰减长度短，探测效率提高，空间分辨高降低晶体的衰减时间短，则时间分辨好，可使随机符合事件下降，系统死时间缩短晶体光电效应分支比高，则定位精度好，能量分辨率好晶体的发光效率高，则能量分辨好

为肾的结构和功能单位由肾小体和肾小管组成每个肾所含肾单位多达100万个以上肾单位仅位于皮质

下列关于PET晶体厚度和尺寸的描述，错误的一项是（）。