质谱仪是一种研究带电粒子的重要工具它的构造原理如图所示．粒子源S产生的带正电的粒子首先经MN两带电-X题卡

两种粒子都带负电金属板P.₁、P.₂间电场方向水平向左 b粒子的速度大于a粒子的速度 a粒子的比荷大于b粒子的比荷

可见光成像光谱仪原位质谱仪激光拉曼探针 X 射线荧光衍射仪

₁A.₂.平板S.下方有磁感应强度为 ₀的匀强磁场.下列表述正确的是 (　　)

A.质谱仪是分析同位素的重要工具 B.速度选择器中的磁场方向垂直纸面向外能通过狭缝P.的带电粒子的速率等于E./B. 粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P.，粒子的比荷越小

2：3

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9：4

带电粒子带正电，是从点射入的B.带电粒子带负电，是从B.点射入的带电粒子带负电，是从A.点射入的带电粒子带正电，是从A.点射入的

该束带电粒子带正电速度选择器的P.₁极板带负电能通过狭缝S.₀的带电粒子的速率等于EB₁ 粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝S.₀，粒子的比荷越大

离子束是同位素，则x越大，离子质量越大若离子束是同位素，则x越大，离子质量越小只要x相同，则离子质量一定相同只要x相同，则离子的荷质比一定相同

质谱仪是分析同位素的重要工具速度选择器中的磁场方向垂直纸面向外能通过狭缝P.的带电粒子的速率等于E./B 粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P.，粒子的荷质比越小

提高带电粒子的动能提高带电粒子的带电量提高所有粒子的动能提高所有粒子的带电量

质谱仪是分析同位素的重要工具速度选择器中的磁场方向垂直纸面向里能通过的狭缝P.的带电粒子的速率等于E./B 粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P.，粒子的荷质比越小

带电粒子带正电。带电粒子带负电。粒子先经过A.点，后经过B.点粒子先经过B.点，后经过A.点

1A2。平板S.下方有强度为 0的匀强磁场。下列表述正确的是 A.质谱仪是分析同位素的重要工具 B.速度选择中的磁场方向垂直纸面向外能通过狭缝P.的带电粒子的速率等于E./B 粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P.，粒子的荷质比越小

带电粒子的荷质比带电粒子的初速度带电粒子在磁场中运动的周期带电粒子在磁场中运动的半径

₁A.₂.平板S.下方有强度为 ₀的匀强磁场.下列表述正确的是 (　　) A.质谱仪是分析同位素的重要工具 B.速度选择器中的磁场方向垂直纸面向外能通过狭缝P.的带电粒子的速率等于E./B. 粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P.，粒子的比荷越小

若离子束是同位素（质子数相同质量数不同），x越大，离子质量越小若离子的荷质比q/m相同，如果加速电压越大，则x越小只要x相同，则离子质量一定相同只要x相同，则离子的荷质比一定相同

此粒子带负电下极板S₂比上极板S₁电势高若只增大加速电压U的值，则半径r变大若只增大入射粒子的质量，则半径r变大

质谱仪是一种研究带电粒子的重要工具，它的构造原理如图所示．粒子源S产生的带正电的粒子首先经M、N两带电金属板间的匀强电场加速，然后沿直线从缝隙O垂直于磁场方向进入磁感应强度为B的匀强磁场，在磁场中经...