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描述探伤仪示波屏上由于试件的结构组织或小缺陷或上述两者所引起的大 量低幅信号的术语是( )。

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大  小  便于发现大的缺陷  任意  
不同的探测频率  不同的晶片尺寸  不同示波屏尺寸的A型探伤仪  以上都是  
距离—振幅高度  吸收电平  垂直极限  分辨率极限  
不同的探测频率  不同的晶片尺寸  不同示波屏尺寸的 A型探伤仪  以上都是  
不同的探测频率  不同的晶片尺寸  不同示波屏的A型探伤仪  不同试件  

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