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测长法一般仅适用于测定直径远小于声束截面的缺陷的大小。( )

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回波高度法  F/B法  当量法  延伸长度法  
当量法  缺陷回波高度法  底面回波高度法  延伸度定量评定法  
面积大于声束截面的当量一定大  面积小于声束截面的当量反而大  当量忽大忽小  以上都可能  
水平裂纹  小于声束截面的缺陷  斜裂纹  纵向裂纹  
回波高度法  F/B法  当量法  延伸长度法  
小于实际尺寸  接近声束宽度  稍大于实际尺寸  等于晶片尺寸  
小于实际尺寸  接近声束宽度(测长法适用于面积大于声束面或长度大于声束面直径的缺陷  稍大于实际尺寸  等于晶片尺寸  
小于实际尺寸  接近声束宽度  稍大于实际尺寸  等于晶片尺寸  
大于声束截面的缺陷  小于声束截面的缺陷  水平裂纹和斜裂纹  纵向裂纹  

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