造成卷褶伪影主要是因为-X题卡

视场的范围超出被检物体被检物体超出视场的范围 TR过大 TE过大扫描时间过长

视场的范围超出被检物体被检物体超出视场的范围 TR过大 TE过大扫描时间过长

化学位移伪影卷褶伪影截断伪影金属异物伪影交叉信号对称伪影

受检物体尺寸大于FOV的大小，FOV外的组织信号将折叠到图像另一侧卷褶伪影通常出现在相位编码方向上卷褶伪影通常出现在频率编码方向上增大FOV可有效避免卷褶伪影在相位编码上过度采样能避免褶伪影

主要发生于相位编码方向加大FOV可去除此伪影使用无相位卷褶可去除此伪影被检部位的解剖结构大小超出FOV范围将检查部位的最小直径方向摆在频率编码方向上

运动伪影金属伪影卷褶伪影化学位移伪影截断伪影

运动伪影磁敏感伪影截断伪影卷褶伪影化学位移伪影

运动伪影卷褶伪影化学位移伪影磁敏感性伪影截断伪影

视场的范围超出被检查的解剖部位被检查的解剖部位超出视场的范围 TR过大 TE过大扫描时间过长

受检物体尺寸大于FOV的大小，FOV外的组织信号将折叠到图像另一侧卷褶伪影通常出现在相位编码方向上卷褶伪影通常出现在频率编码方向上增大FOV可有效避免卷褶伪影在相位编码上过度采样能避免褶伪影

卷褶伪影是由于FOV小于受检部位所致卷褶伪影主要发生在频率编码方向上变换频率编码和相位编码方向可消除卷褶伪影施加空间预饱和带可抑制卷褶伪影增大FOV可增加卷褶伪影出现的频率

化学位移伪影血管搏动伪影截断伪影卷褶伪影交叉信号对称伪影

视场的范围超出被检查的揭破部位。被检查的揭破部位超出视场的范围。 TR过大。 TE过大。扫描时间过长。

视场的范围超出被检查的揭破部位。被检查的揭破部位超出视场的范围。 TR过大。 TE过大。扫描时间过长。

卷褶伪影截断伪影化学位移伪影运动伪影射频伪影

卷褶伪影是由于FOV过大造成的卷褶伪影在2D采集中经常出现，在3D采集中不会出现卷褶伪影出现在频率编码方向卷褶伪影出现在相位编码方向卷褶伪影既可以出现在相位编码方向上，也可以出现在频率编码方向上

运动伪影磁敏感伪影截断伪影卷褶伪影化学位移伪影

化学位移伪影运动伪影卷褶伪影截断伪影放射状伪影

化学位移伪影卷褶伪影截断伪影部分容积效应层间干忧

运动伪影金属伪影卷褶伪影化学位移伪影截断伪影

造成卷褶伪影主要是因为