质谱仪是一种测量带电粒子质量和分析同位素的重要工具它的构造原理如图离子源A产生电荷量相同而质量不同-X题卡

下方的小孔S.，无初速度飘入电势差为U.的加速电场。加速后垂直进入磁感强度为的匀强磁场中。氢的三种同位素最后打在照相底片D.上，形成a、b、c三条“质谱线”。关于三种同位素进入磁场时的速度的排列顺序，和a、b、c三条“质谱线”的排列顺序，下列判断正确的是

A.进入磁场时速度从大到小排列的顺序是氚、氘、氕B.进入磁场时速度从大到小排列的顺序是氘、氚、氕 a、b、c三条质谱线依次排列的顺序是氘、氚、氕 a、b、c三条质谱线依次排列的顺序是氚、氘、氕

₁A.₂.平板S.下方有强度为 ₀的匀强磁场.下列表述正确的是A.质谱仪是分析同位素的重要工具B.速度选择器中的磁场方向垂直纸面向内能通过狭缝P.的带电粒子的速率等于

粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P.，粒子的比荷越小

）该束带电粒子带正电（）该束带电粒子带负电（）速度选择器的P₁极板带正电（）在B₂磁场中运动半径越大的粒子，比荷q/m越小

₁A.₂.平板S.下方有磁感应强度为 ₀的匀强磁场.下列表述正确的是 (　　)

A.质谱仪是分析同位素的重要工具 B.速度选择器中的磁场方向垂直纸面向外能通过狭缝P.的带电粒子的速率等于E./B. 粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P.，粒子的比荷越小

2：3

：

9：4

质谱仪是分析同位素的重要工具速度选择器中的磁场方向垂直纸面向外能通过狭缝P.的带电粒子的速率等于B./E 粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P.，粒子的比荷越小

进入磁场时速度从大到小排列的顺序是氚、氘、氕进入磁场时速度从大到小排列的顺序是氘、氚、氕 a、b、c三条质谱线依次排列的顺序是氘、氚、氕 a、b、c三条质谱线依次排列的顺序是氚、氘、氕

离子束是同位素，则x越大，离子质量越大若离子束是同位素，则x越大，离子质量越小只要x相同，则离子质量一定相同只要x相同，则离子的荷质比一定相同

质谱仪是分析同位素的重要工具速度选择器中的磁场方向垂直纸面向里能通过狭缝P.的带电粒子的速率等于B./E 粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P.，粒子的比荷越小

质谱仪是分析同位素的重要工具速度选择器中的磁场方向垂直纸面向外能通过狭缝P.的带电粒子的速率等于E./B 粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P.，粒子的荷质比越小

质谱仪是分析同位素的重要工具速度选择器中的磁场方向垂直纸面向里能通过的狭缝P.的带电粒子的速率等于E./B 粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P.，粒子的荷质比越小

1A2。平板S.下方有强度为 0的匀强磁场。下列表述正确的是 A.质谱仪是分析同位素的重要工具 B.速度选择中的磁场方向垂直纸面向外能通过狭缝P.的带电粒子的速率等于E./B 粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P.，粒子的荷质比越小

₁A.₂.平板S.下方有强度为 ₀的匀强磁场.下列表述正确的是 (　　) A.质谱仪是分析同位素的重要工具 B.速度选择器中的磁场方向垂直纸面向外能通过狭缝P.的带电粒子的速率等于E./B. 粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P.，粒子的比荷越小

质谱仪是分析同位素的重要工具速度选择器中的磁场方向垂直纸面向里能通过狭缝P.的带电粒子的速率等于E./B 粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P.，粒子的荷质比越小

若离子束是同位素（质子数相同质量数不同），x越大，离子质量越小若离子的荷质比q/m相同，如果加速电压越大，则x越小只要x相同，则离子质量一定相同只要x相同，则离子的荷质比一定相同

此粒子带负电下极板S₂比上极板S₁电势高若只增大加速电压U的值，则半径r变大若只增大入射粒子的质量，则半径r变大

质谱仪是一种测量带电粒子质量和分析同位素的重要工具，它的构造原理如图，离子源A产生电荷量相同而质量不同的离子束（初速度可视为零），从狭缝S1进入电场，经电压为U的加速电场加速后，再通过狭缝S2从小孔...