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熔接过程中对每一芯光纤进行实行跟踪监测， 检查每一个熔点质量 每次盘纤后对所盘光纤进行例检，以确定盘纤带来的附加损耗 封接续盒接对所有光纤进行测量，查明有无漏测和光纤预留空间对光纤及接头有无挤压 封盒后，对所有光纤进行最后监测，检查封盒是否对光纤有损害 全错
为了反映光纤衰耗的特性，引进光缆损耗因子的概念。 衰减是光在沿着光纤传输过程中光功率的减少。 光纤损耗及光线长度没有关联，总衰耗数只能表明光纤损耗 本身，不能反映光纤的长度 光纤损耗是指光线输出端的功率及发射到光纤时的功率的 比值。
光纤通道总衰减 光纤单位长度损耗 光纤长度 光纤偏振模色散 光缆对地绝缘
测试光纤的长度 测试光纤的接头损耗 测试光纤的衰减系数 测试光纤的回波损耗
光纤通道总衰减 光纤单位长度损耗 光纤长度 光纤偏振模色散 光缆对地绝缘
熔接机监测 OTDR监测 光源和光功率计测量 远端环回双向监测
OTDR全自动测试模式适用于简单测试光纤的损耗，在这种模式下距离范围、脉宽、平均化的各种设定由OTDR做最佳值判断，来进行自动测试，便于光纤断点的检知，光纤接头的确认（在不清楚长度时） 在OTDR自动测试模式下，脉冲宽度、距离范围、平均次数等测试条件由操作者来设定，测试波形的自动解析（事件表格的形成）与全自动测试一样，便于在光纤施工／维护等时的数据获取 OTDR手动测试模式下，每一测试条件用户都可自由选择，为了不进行自动的事件点的检知，可对任意的测试点用6点光标法，通过设定6点来得到损耗值，对熔接点的测试很方便 OTDR设置中脉宽与盲区的关系：脉宽大时，距离分辨率也高，对近处的事件点也能正确地进行测试。相反地，脉宽小时，有可能出现分辨不出事件点的情况
测量全程链路光功率时，必须将连接ONU的跳纤连接到光功率测试仪的ONU端口，将连接OLT端口的跳纤连接到光功率测试仪的OLT端口。 1310nm波长下的PON功率计数值为OLT至客户端ONU间的光纤链路损耗值 ONU正常工作的最小接收灵敏度为-24dbm，所以测得光功率值≧-24dbm即可 连线前和测试完成需使用无水酒精或专业清洁工具清洁光纤机械接续连接插头的端面
光纤损耗基数 光纤衰减常数 光纤长度 光纤防水系数 光纤抗压系数
为了反映光纤衰耗的特性，引进光缆损耗因子的概念。 衰减是光在沿着光纤传输过程中光功率的减少。 光纤损耗与光线长度没有关联，总衰耗数只能表明光纤损耗本身，不能反映光纤的长度 光纤损耗是指光线输出端的功率与发射到光纤时的功率的比值。
中继段光纤线路损耗测量 中继段光纤后向散射信号曲线检测 中继段光纤接续损耗测量 中继段长度耗测量 长途光缆链路偏振模色散 (PMD)测量。
G.652光缆接头损耗双向平均值≤0.08DB/个 G.652总光纤最大衰耗值≤0.22DB/km（1550nm窗口）或≤0.38DB/km（1310nm窗口） G.655光纤设计不做要求时仅测试1550nm窗口 G.655总光纤最大衰耗值≤0.22DB/km（1550nm窗口） G.652光缆接头损耗双向取最大值
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