厚度突变的缺陷要比厚度逐渐变化的缺陷在底片上产生的影像清晰度好（）

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无损检测技术资格人员考试《中级无损检测-射线检测试题六》真题及答案点击查看

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射线照相底片上所能发现的最小缺陷尺寸与透照厚度的百分比称为

绝对灵敏度相对灵敏度对比度清晰度

在相同检测条件下同一缺陷所在试件位置越靠近底片侧时则

其影像放大得越大，而其几何不清晰度变大其影像放大得越小，而其几何不清晰度变大其影像放大得越大，而其几何不清晰度变小其影像放大得越小，而其几何不清晰度变小

从可检出最小缺陷尺寸的意义上说射线照相灵敏度取决于

胶片粒度底片上缺陷影像的不清晰度底片上缺陷影像的对比度以上都是

从可检出最小缺陷的意义上说射线照相灵敏度取决于

底片成像颗粒度；底片上缺陷图象不清晰度；底片上缺陷图象对比度；以上都是。

决定可检出缺陷在射线透照方向最小尺寸缺陷深度的是影像的

对比度不清晰度颗粒度以上都是

从可检出最小缺陷尺寸的意义上说射线照相灵敏度取决于

胶片粒度底片上缺陷影像的不清晰度底片上缺陷影像的对比度以上都是

射线底片上影像所代表的缺陷性质的识别通常可以从黑度分布和位置进行综合分析

缺陷影像的几何形状缺陷影像的厚度缺陷影像的大小缺陷影像的长度

决定缺陷在射线透照方向上可检出最小厚度差的因素是

对比度不清晰度颗粒度以上都是

厚度逐渐变化的缺陷要比厚度突变的缺陷在底片上产生的影像清晰度好

试样中靠近射线源侧的缺陷影像在情况下其清晰度不好

射线源到物体距离增大试样厚度增大焦点尺寸减小试样厚度减小

决定可检出缺陷在射线透照方向最小尺寸的是影像的

对比度不清晰度颗粒度以上都是

从可检出最小缺陷的意义上说射线照相灵敏度取决于

底片成象颗粒度底片上缺陷图像不清晰度底片上缺陷图像对比度以上都是

在相同检测条件下同一缺陷所在试件位置越靠近底片侧时则

决定缺陷在射线透照方向上可检出最小厚度差的因数是

对比度不清晰度颗粒度以上都是

厚度逐渐变化的缺陷要比厚度突变的缺陷在底片上产生的

厚度逐渐变化的缺陷要比厚度突变的缺陷在底片上产生的影像清晰度差

对缺陷影像在射线底片上的显示对比度和清晰度有很大影响

试样中靠近射线源侧的缺陷影像在情况下其清晰度不好

大焦距试样厚度大小焦点试样厚度小

决定可检出缺陷在射线透照方向最小尺寸缺陷深度的是影像的

对比度不清晰度颗粒度以上都是

试样中靠近射线源侧的缺陷影像在情况下其清晰度不好

射线源到物体距离增大试样厚度增大焦点尺寸减小试样厚度减小

厚度突变的缺陷要比厚度逐渐变化的缺陷在底片上产生的影像清晰度好（）

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