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锻件探伤时，（）会在荧光屏上产生非缺陷回波。

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锻件探伤时那些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波?:

边缘效应工件形状及外形轮廓迟到波以上全部

方形锻件垂直法探伤时荧光屏上出现一个缺陷回波其波幅较低但底波降低很大该缺陷取向可能是

平行且靠近探测面与声速方向平行与探测面成较大角度平行且靠近底面

锻件探伤时哪些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波

边缘效应工件形状及外形轮廓缺陷形状和取向以上全部

锻件探伤中荧光屏上出现是由于工件材料晶粒粗大

方形锻件垂直法探伤时荧光屏上出现一游动缺陷回波其波幅较低但底波降低很大该缺陷取向可能是

平行且靠近探测面与声速方向平行与探测面成较大角度平行且靠近底面

锻件探伤中荧光屏上出现林状波时是由于

工件中有大面积倾斜缺陷工件材料晶粒粗大工件中有密集缺陷以上全部

A型显示脉冲超声波探伤仪荧光屏上显示的回波幅度与回波声压成正比

锻件探伤时哪些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波

边缘效应工件形状及外形轮廓缺陷形状和取向以上全部

方形锻件垂直法探伤时荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波其波幅较低但底波降低很大该缺陷的取向可能

平行且靠近探测面与声束方向平行与探测面成较大角度平行且靠近底面

锻件探伤中荧光屏上出现林状丛状波时是由于

工件中有小而密集缺陷工件材料中有局部晶粒粗大区域工件中有疏松缺陷以上都有可能

方形锻件垂直法探伤时荧光屏上出现一游动缺陷回波其波幅较低但底波降低很大该缺陷取向可能是

平行且靠近探测面与声束方向平行与探测面成较大角度平行且靠近底面

方形锻件垂直法探伤时荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波其波幅较低但底波降低很大该缺陷的取向可

平行且靠近探测面与声束方向平行与探测面成较大角度平行且靠近底面

使用串列法探头探伤时如果焊缝中没有缺陷则荧光屏上

有一个固定回波无回波有时有回波，有时无回波有二个回波

锻件探伤时那些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波

边缘效应工件形状及外形轮廓迟到波以上全部

锻件探伤中荧光屏上出现林状丛状波时是由于

工件中有小而密集缺陷工件材料中有局部晶粒粗大区域工件中有疏松缺陷以上都有可能

锻件探伤中荧光屏上出现林状波时是由于

工件中有大面积倾斜缺陷工件材料晶粒粗大工件中有密集缺陷以上全部

A型显示探伤可以根据缺陷回波在荧光屏水平基线上的位置来确定缺陷大小用回波幅度的高低来衡量缺陷深度

锻件探伤中荧光屏上出现林状波时是由于

工件中有大面积倾斜缺陷工件材料晶粒粗大工件中有单个缺陷工件中有两个缺陷

A型显示脉冲超声波探伤仪荧光屏显示的回波幅度与回波声压

锻件探伤中荧光屏上出现淋状波是由于工件材料晶粒

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