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当试品绝缘受潮时，随着试验电压 U 的变化,tan8 值呈开口环曲线。

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在绝缘试验时通过测量介质损耗角的正切值tan8来检验介质损耗的大小

试品绝缘表面脏污受潮在试验电压下产生表面泄漏电流对试品tanδ和C测量结果的影响程度是

试品电容量越大，影响越大；试品电容量越小，影响越小；试品电容量越小，影响越大；与试品电容量的大小无关。

tan8测试时随着试验电压U的变化tan8值呈闭合的环状曲线则试品属于

良好绝缘绝缘中存在气隙绝缘受潮

当试品绝缘受潮时随着试验电压U的变化tanδ值呈开口环曲线

当被试品具有较大电容时tan8测试只能反映整体的绝缘状况

测量电气设备介质损耗角正切值tan8时消除电场干扰影响的方法中使用移相器改变试验电压的相位在试验电

对于良好绝缘的tan8测试在额定电压以下时随着试验电压U的升而

升高降低基本不变

tAnδ测试时随着试验电压U的变化tAnδ值呈闭合的环状曲线则试品属于

良好绝缘绝缘中存在气隙绝缘受潮

当试品绝缘中存在气隙时随着试验电压U的变化tanδ值呈闭合的环状曲线

anδ测试时随着试验电压U的变化tanδ值呈闭合的环状曲线则试品属于

良好绝缘绝缘中存在气隙绝缘受潮

tan&测试时随着试验电压U的变化tan&值呈开口环曲线则试品属于

良好绝缘绝缘中存在气隙绝缘受潮

对于良好绝缘的tan8测试在额定电压以下时随着试验电压U的升高而降低

对于良好绝缘的tan8测试在额定电压以下时随着试验电压U的升而基本不变

tAnδ测试时随着试验电压U的变化tAnδ值呈开口环曲线则试品属于

良好绝缘绝缘中存在气隙绝缘受潮

当试验电压U及电源频率w一定被试品的电容值也一定时介质损耗P与tan8成反比

tanδ测试时随着试验电压U的变化tanδ值呈闭合的环状曲线则试品属于

绝缘中存在气隙良好绝缘绝缘受潮

当试品绝缘中存在气隙时随着试验电压U的变化tan8值呈闭合的环状曲线

当试品绝缘中存在气隙时随着试验电压U的变化tan&值呈闭合的环状曲线

tanδ测试时随着试验电压U的变化tanδ值呈开口环曲线则试品属于

良好绝缘绝缘受潮绝缘中存在气隙

当试品绝缘受潮时随着试验电压U的变化tAnδ值呈开口环曲线

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